[发明专利]基于反射光谱的矿物识别方法在审

专利信息
申请号: 201910115299.8 申请日: 2019-02-15
公开(公告)号: CN109959624A 公开(公告)日: 2019-07-02
发明(设计)人: 田超;张友刚;赵卫忠;吴亚峰;牛战恩 申请(专利权)人: 中国黄金集团石湖矿业有限公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 石家庄领皓专利代理有限公司 13130 代理人: 任军培;李婷
地址: 050504 河北*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明属于矿物识别技术领域,提出了基于反射光谱的矿物识别方法,包括以下步骤:S1、数据测量,用光谱仪对样品中的若干取样点进行测量,得到测量值;S2、数据处理,根据S1中每个取样点的测量值得出每个取样点的光谱波形,进行拼接校正后再进行均值化,得出样品的光谱波形;S3、矿物识别,先将S2中样品的光谱波形数据计算出特征波谷的位置,然后根据特征波谷处波长与光谱库中典型矿物进行标准匹配,得到匹配矿物,再将匹配矿物的光谱波形与样品的光谱波形进行对比,得出样品中可能存在的矿物;S4、数据计算,对S3中可能存在的矿物进行拟合计算,得出样品中的矿物组成及各组分的相对含量。本发明解决了现有技术中识别精度低、识别时间长的问题。
搜索关键词: 光谱波形 矿物 矿物识别 取样点 反射光谱 数据计算 测量 匹配 光谱仪 标准匹配 矿物组成 拟合计算 数据测量 数据处理 波谷处 光谱库 均值化 波长 波谷 拼接 校正
【主权项】:
1.基于反射光谱的矿物识别方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、数据测量,使用光谱仪对样品中的取样点进行测量,得到样品原始光谱波形;S2、数据处理,对S1中样品原始光谱波形的断点处进行预处理,得到样品预处理后光谱波形数据;S3、矿物识别,将S2中样品预处理后光谱波形数据利用二阶导数计算出样品特征波谷位置及相应的反射率大小,根据样品特征波谷处波长与光谱库中典型矿物的典型矿物特征波谷处波长进行标准匹配,得到与样品特征波谷特征一致的匹配矿物,将匹配矿物的光谱波形与样品预处理后光谱波形数据的相似程度进行对比,得出样品中可能存在矿物;S4、数据计算,对S3得出的样品中可能存在矿物的光谱与样品的光谱进行拟合计算,得出样品中的矿物组成及各组分的相对含量。
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