[发明专利]基于回归测试的核心功能覆盖度统计方法及装置有效

专利信息
申请号: 201910116304.7 申请日: 2019-02-13
公开(公告)号: CN109947640B 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 李仁伟 申请(专利权)人: 北京达佳互联信息技术有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 莎日娜
地址: 100085 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开公开了一种基于回归测试的核心功能覆盖度统计方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质,其中,所述方法包括:根据待测试应用程序对应的功能覆盖度测试请求确定实际访问的应用程序接口数据和期望访问的应用程序接口数据;根据所述实际访问的应用程序接口数据和所述期望访问的应用程序接口数据确定核心功能覆盖度。本公开通过根据待测试应用程序对应的功能覆盖度测试请求确定实际访问的应用程序接口数据和期望访问的应用程序接口数据,并根据所述实际访问的应用程序接口数据和所述期望访问的应用程序接口数据确定核心功能覆盖度,一方面无需开发人员编写各种单元测试用例,简化了测试过程,并且本公开基于应用程序接口粒度,能够得到更为精确的核心功能覆盖度,该核心功能覆盖度具有较强的指导意义。
搜索关键词: 基于 回归 测试 核心 功能 覆盖 统计 方法 装置
【主权项】:
1.一种基于回归测试的核心功能覆盖度统计方法,其特征在于,包括:根据待测试应用程序对应的功能覆盖度测试请求确定实际访问的应用程序接口数据和期望访问的应用程序接口数据;根据所述实际访问的应用程序接口数据和所述期望访问的应用程序接口数据确定核心功能覆盖度。
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