[发明专利]一段拜耳法种分生产砂状氧化铝的方法有效
申请号: | 201910118430.6 | 申请日: | 2019-02-16 |
公开(公告)号: | CN109650420B | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 张灿;郝跃鹏;程涛;赵东亮;池清泉 | 申请(专利权)人: | 中铝矿业有限公司 |
主分类号: | C01F7/06 | 分类号: | C01F7/06 |
代理公司: | 郑州智多谋知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 41170 | 代理人: | 马士腾 |
地址: | 450041 河南*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: |
一种一段拜耳法种分生产砂状氧化铝的方法,本发明根据晶种中细颗粒含量及其变化趋势的准确预判,调整晶种分解条件和活性添加剂,改变晶种中细颗粒的附聚量使晶种粒度‑45μm含量稳定在要求的10~20%范围内,选取晶种成核频数f3.55、粒度‑14μm含量作为衡量细粒子多少的参照标准,晶种成核频数f3.55控制范围设定为0.56~1.11×10 |
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搜索关键词: | 一段 拜耳法种分 生产 氧化铝 方法 | ||
【主权项】:
1.一种一段拜耳法种分生产砂状氧化铝的方法,其特征在于:该方法根据晶种中细颗粒含量及其变化趋势的准确预判,调整晶种分解条件和活性添加剂,改变晶种中细颗粒的附聚量使晶种粒度‑45μm含量稳定在要求的10~20%范围内,选取晶种成核频数f3.55、粒度‑14μm含量作为衡量细粒子多少的参照标准,并分别确立其标准控制范围:颗粒计数仪器使用小孔管50μm检测时阀值设定为1.5μm,晶种成核频数f3.55控制范围设定为0.56~1.11×105;颗粒计数仪器使用小孔管280μm检测时阀值设定为9.5μm,晶种粒度‑14μm含量控制范围设定为0.3%~0.6%,选定晶种成核频数f3.55和晶种粒度‑14μm含量作为晶种调控指标;取样检测频次为每八小时一个点样,根据上述标准范围进行调整晶种分解条件和活性添加剂的方法如下:晶种成核频数f3.55和晶种粒度‑14μm含量在上述给出的标准范围内波动时,各项分解条件和结晶助剂添加量保持不动;晶种成核频数f3.55和晶种粒度‑14μm含量均在上述给出的标准范围内,但连续48小时均呈上升趋势,上调结晶助剂添加量5ppm;晶种成核频数f3.55和晶种粒度‑14μm含量超出上述给出的标准范围的上限值,且仍呈上升趋势,结晶助剂添加量再上调5~10ppm,同时上调分解槽首槽温度1~2℃;晶种成核频数f3.55和晶种粒度‑14μm含量超出上述给出的标准上限值,但连续48小时呈下降趋势,下调分解槽首槽温度0.5~1℃;晶种成核频数f3.55和‑14μm粒度均降至上述给出的标准范围上限值,且仍呈下降趋势时,下调结晶助剂添加量5ppm;晶种成核频数f3.55和晶种粒度‑14μm含量均降至上述给出的标准范围中心值,且仍呈下降趋势时,再下调结晶助剂添加量5ppm;晶种成核频数f3.55和晶种粒度‑14μm含量均降至上述给出的标准范围下限值,且仍呈下降趋势时,下调结晶助剂添加量10ppm;晶种成核频数f3.55和晶种粒度‑14μm含量低于上述给出的标准范围的下限值,且仍呈下降趋势时,停止添加结晶助剂,缓慢下调分解槽首槽温度0.5~1℃;晶种成核频数f3.55和晶种粒度‑14μm含量低于上述给出的标准范围的下限值,两指标变化趋势由从下降变成稳定,恢复结晶助剂添加或小幅上调结晶助剂添加量5ppm;晶种成核频数f3.55和晶种粒度‑14μm含量均升至要求标准范围下限时,上调结晶助剂添加量5~10ppm减缓晶种成核频数和晶种粒度的上升速度直至晶种成核频数f3.55和晶种粒度‑14μm含量在要求标准范围内波动。
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