[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201910120155.1 申请日: 2019-02-18
公开(公告)号: CN110299359A 公开(公告)日: 2019-10-01
发明(设计)人: 崔秉夏;益冈有里;李栗 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088;H01L29/06;H01L21/8234
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 尹淑梅;陈晓博
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 提供了一种半导体装置。所述半导体装置包括:有源图案,位于基底上;栅极结构,与有源图案交叉;源极/漏极图案,在栅极结构一侧处位于有源图案上;接触插塞,位于源极/漏极图案上;以及导电图案,位于源极/漏极图案与接触插塞之间,其中,源极/漏极图案包括与导电图案相邻的阻挡层,其中,阻挡层包括氧原子。
搜索关键词: 源极/漏极 半导体装置 源图案 图案 导电图案 接触插塞 栅极结构 阻挡层 氧原子 基底
【主权项】:
1.一种半导体装置,所述半导体装置包括:有源图案,位于基底上;栅极结构,与有源图案交叉;源极/漏极图案,在栅极结构的一侧处位于有源图案上;接触插塞,位于源极/漏极图案上;以及导电图案,位于源极/漏极图案与接触插塞之间,其中,源极/漏极图案包括与导电图案相邻的阻挡层,并且其中,阻挡层包括氧原子。
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