[发明专利]外观瑕疵检测方法、电子装置及存储介质在审
| 申请号： | 201910123888.0 | 申请日： | 2019-02-19 |
| 公开（公告）号： | CN111598827A | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 冯辉译;赵学兴;董自成;吕炎州;王晟;李华敏 | 申请（专利权）人： | 富泰华精密电子（郑州）有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/62 |
| 代理公司： | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人： | 汪飞亚;习冬梅 |
| 地址： | 450016 河南省郑州市经济*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明提供一种外观瑕疵检测方法，包括以下步骤：通过至少一台影像感测器获取待测物的图像；将所述图像分割成多个小图；通过图像算法判断每张所述小图是否均匀无暇；通过第一深度学习模型判断非无暇的小图是否有待检测瑕疵；若为是，通过第二深度学习模型确定瑕疵的种类；计算出所述瑕疵在相应的所述种类中的级别；判断所述级别是否符合相应的允收条件，从而判断所述待测物是否合格。本发明之外观瑕疵检测方法提升了检测的效率和准确度。本发明同时提出一种电子装置及存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 外观 瑕疵 检测 方法 电子 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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