[发明专利]一种图像校正方法和装置有效

专利信息
申请号: 201910125423.9 申请日: 2019-02-20
公开(公告)号: CN109544484B 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: 肖文平;程旭;石川;张航 申请(专利权)人: 上海赫千电子科技有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T3/40;G06T5/50
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200125 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明揭示了一种图像校正方法及装置,用于对采集到的畸变图像进行校正,包括如下步骤:定制单幅特征靶图,采用摄像头采集单幅特征靶图的畸变图像;采用畸变参数表对单幅特征靶图的畸变图像进行畸变校正后依次进行透视变换和分区域拟合,分别获取相对应的经典外参矩阵和分区域拟合函数;采用摄像头采集实际现场图像的畸变图像,依次采用光学畸变参数表进行畸变校正、采用经典外参矩阵进行透视变换、采用分区域拟合函数进行分区域拟合校正和拼接融合,生成实际现场图像的最终校正图像。采用了本发明的技术方案,实现了对个体摄像头采集图像的高精度畸变校正,提高了图像与实际摄像头视场内物体分布位置的精准匹配度。
搜索关键词: 畸变图像 分区域 摄像头采集 畸变校正 矩阵 拟合函数 透视变换 图像校正 现场图像 拟合 校正 图像 方法和装置 摄像头 分布位置 光学畸变 畸变参数 校正图像 参数表 匹配度 拼接 采集 融合
【主权项】:
1.一种图像校正方法,用于对采集到的畸变图像进行校正,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1,摆放单幅特征靶图,采用摄像头进行采集,生成所述单幅特征靶图的畸变图像;步骤S2,采用光学畸变参数表对所述单幅特征靶图的畸变图像进行畸变校正,生成所述单幅特征靶图的虚拟物平面图像;步骤S3,对所述单幅特征靶图的虚拟物平面图像进行外参标定得到经典外参矩阵后,采用经典外参矩阵进行透视变换生成所述单幅特征靶图的透视变换图像;步骤S4,将所述单幅特征靶图的透视变换图像划分为不同区域,对所述单幅特征靶图的透视变换图像上的特征点与单幅特征靶图上的特征点分区域进行一一配对,分区域拟合后得到分区域拟合函数;步骤S5,采用摄像头采集实际现场图像,生成实际现场图像的畸变图像,依次采用光学畸变参数表进行畸变校正、采用经典外参矩阵进行透视变换、按照划分的不同区域采用分区域拟合函数进行分区域拟合校正后再拼接融合,生成所述实际现场图像的最终校正图像;所述单幅特征靶图为矩形,其上设置的特征点为第一特征点,第一特征点在水平方向和垂直方向间隔相同;所述单幅特征靶图的畸变图像、虚拟物平面图像、透视变换图像上存在与所述单幅特征靶图上第一特征点相对应的第二特征点、第三特征点和第四特征点,单幅特征靶图上的第一特征点通过缩放比例映射到透视变换平面上生成第五特征点,所述步骤S3包括如下步骤:步骤S31,提取所述单幅特征靶图的虚拟物平面图像中第三特征点,与单幅特征靶图中均匀分布的第一特征点进行一一映射,得到映射后第三特征点的坐标;步骤S32,将所述单幅特征靶图中第一特征点的坐标按缩放比例映射到透视变换平面,得到第五特征点在透视变换平面上的坐标;步骤S33,解出经典外参矩阵,所述经典外参矩阵用于将第五特征点在透视变换平面上的坐标变换为映射后第三特征点的坐标;步骤S34,根据经典外参矩阵对所述单幅特征靶图的虚拟物平面图像进行透视变换,得到所述单幅特征靶图的透视变换图像。
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