[发明专利]材料表面态二次谐波产生的时间分辨测量装置有效
| 申请号： | 201910126792.X | 申请日： | 2019-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN109813654B | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 宋海英;张秀;刘世炳;刘海云 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/39 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;吴欢燕 |
| 地址： | 100022 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种材料表面态二次谐波产生的时间分辨测量装置，包括：反射谱系统和计算机；反射谱系统用于从反射光谱中分离获得二次谐波信号以及与探测光同频率的反射信号；计算机用于处理同频率的反射信号以及二次谐波信号，获取具有中心对称晶体结构材料的动力学过程；其中，同频率的反射信号用于反映材料的体态特征，二次谐波信号用于反映材料的表面态特征。本发明实施例通过利用同频率的反射信号反映材料的体态特征，以及利用二次谐波信号反映的材料的表面态特征等原理，从而能够研究或观察具有中心对称晶体结构材料的各种相互作用的动力学过程。 | ||
| 搜索关键词： | 材料 表面 二次 谐波 产生 时间 分辨 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种材料表面态二次谐波产生的时间分辨测量装置，其特征在于，包括：反射谱系统和计算机；所述反射谱系统用于从反射光谱中分离获得二次谐波信号以及与探测光同频率的反射信号；其中，所述反射光谱是时间分辨超快泵浦探测光谱仪通过所述探测光对具有中心对称晶体结构材料照射后输出至所述反射谱系统的；所述计算机用于处理所述同频率的反射信号以及所述二次谐波信号，获取所述具有中心对称晶体结构材料的动力学过程；其中，所述同频率的反射信号用于反映所述材料的体态特征，所述二次谐波信号用于反映所述材料的表面态特征。
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