[发明专利]一种电子封装微焊点的可靠性评价方法在审

专利信息
申请号: 201910126975.1 申请日: 2019-02-20
公开(公告)号: CN109813752A 公开(公告)日: 2019-05-28
发明(设计)人: 杨栋华;杜飞;张春红;甘贵生;冉藤;翟翔;陈新年;施雷 申请(专利权)人: 重庆理工大学
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20;B23K1/00
代理公司: 重庆华科专利事务所 50123 代理人: 康海燕
地址: 400054 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种电子封装微焊点的可靠性评价方法,其包括如下步骤:1)选取第一金属板和第二金属板,进行表面处理,然后采用钎焊对第一金属板和第二金属板的焊接面进行焊接;2)对焊接后的第一金属板和第二金属板进行切割制样;3)将试样竖直置于温度加载装置内,在试样的微焊点上、下两端形成温度梯度,待温度稳定时开始记录加载时间;4)将试样在步骤3)所述的温度梯度下加载不同时间,通过分析不同加载时间下金属间化合物的厚度变化情况,评价电子封装微焊点在该温度梯度区间下的可靠性。其能够获得稳定可控的温度梯度,其温度梯度范围较大,进而能够有效评价电子封装微焊点在极端温度梯度区间下的可靠性。
搜索关键词: 金属板 焊点 电子封装 温度梯度 加载 温度梯度区间 可靠性评价 焊接 金属间化合物 厚度变化 加载装置 切割制样 温度稳定 有效评价 焊接面 可控的 钎焊 竖直 记录 分析
【主权项】:
1.一种电子封装微焊点的可靠性评价方法,其特征在于:包括如下步骤:1)选取第一金属板和第二金属板,进行表面处理,然后采用钎焊对第一金属板和第二金属板的焊接面进行焊接,在第一金属板和钎料接触处、第二金属板和钎料接触处形成金属间化合物;2)对焊接后的第一金属板和第二金属板进行切割制样,得到具有微焊点的试样,试样为多层结构,从上至下依次包括第一金属板、金属间化合物、钎料填充物、金属间化合物和第二金属板;3)将试样竖直置于温度加载装置内,在试样的微焊点上、下两端形成温度梯度,待温度稳定时开始记录加载时间;4)将试样在步骤3)所述的温度梯度下加载不同时间,通过分析不同加载时间下金属间化合物的厚度变化情况,评价电子封装微焊点在该温度梯度区间下的可靠性。
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