[发明专利]天线阵列校准系统和方法有效
申请号: | 201910130843.6 | 申请日: | 2019-02-22 |
公开(公告)号: | CN110190401B | 公开(公告)日: | 2021-07-27 |
发明(设计)人: | A·I·卡利尔;M·A·Y·阿布达拉;I·A·埃什拉;M·穆巴拉克 | 申请(专利权)人: | 亚德诺半导体无限责任公司 |
主分类号: | H01Q3/28 | 分类号: | H01Q3/28;H01Q3/30;H01Q21/06;H01Q21/29 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 汪晶晶 |
地址: | 百慕大群岛(*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本申请涉及天线阵列校准系统和方法。本公开的方面涉及使用在天线元件之间等距布置的一个或多个探针的天线阵列系统和校准方法。在某些实施方案中,在探针和天线元件之间、在多个天线元件之间、和/或在不同天线阵列上的天线元件之间执行校准。 | ||
搜索关键词: | 天线 阵列 校准 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种具有用于校准天线元件的相对校准的有源天线设备,所述有源天线设备,包括:包括第一天线元件、第二天线元件和第三天线元件的天线元件,其中所述第二天线元件设置成与所述第一天线元件和所述第三天线元件基本等距;探针,设置成与所述第一和第二天线元件基本等距;和校准电路,被配置为:基于在(i)所述探针和所述第一天线元件之间以及(ii)在所述探针和所述第二天线元件之间传播的一个或多个探针信号的观察,识别在所述第一天线元件和所述第二天线元件之间的第一相对关系;使用在(i)所述第二天线元件和所述第一天线元件之间以及(ii)在所述第二天线元件和所述第三天线元件之间传播的一个或多个天线信号,识别在所述第一天线元件和所述第三天线元件之间的第二相对关系;和基于所述第一相对关系和所述第二相对关系,确定用于校准一个或多个天线元件的校准信息。
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