[发明专利]天线阵列校准系统和方法有效

专利信息
申请号: 201910130843.6 申请日: 2019-02-22
公开(公告)号: CN110190401B 公开(公告)日: 2021-07-27
发明(设计)人: A·I·卡利尔;M·A·Y·阿布达拉;I·A·埃什拉;M·穆巴拉克 申请(专利权)人: 亚德诺半导体无限责任公司
主分类号: H01Q3/28 分类号: H01Q3/28;H01Q3/30;H01Q21/06;H01Q21/29
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 汪晶晶
地址: 百慕大群岛(*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请涉及天线阵列校准系统和方法。本公开的方面涉及使用在天线元件之间等距布置的一个或多个探针的天线阵列系统和校准方法。在某些实施方案中,在探针和天线元件之间、在多个天线元件之间、和/或在不同天线阵列上的天线元件之间执行校准。
搜索关键词: 天线 阵列 校准 系统 方法
【主权项】:
1.一种具有用于校准天线元件的相对校准的有源天线设备,所述有源天线设备,包括:包括第一天线元件、第二天线元件和第三天线元件的天线元件,其中所述第二天线元件设置成与所述第一天线元件和所述第三天线元件基本等距;探针,设置成与所述第一和第二天线元件基本等距;和校准电路,被配置为:基于在(i)所述探针和所述第一天线元件之间以及(ii)在所述探针和所述第二天线元件之间传播的一个或多个探针信号的观察,识别在所述第一天线元件和所述第二天线元件之间的第一相对关系;使用在(i)所述第二天线元件和所述第一天线元件之间以及(ii)在所述第二天线元件和所述第三天线元件之间传播的一个或多个天线信号,识别在所述第一天线元件和所述第三天线元件之间的第二相对关系;和基于所述第一相对关系和所述第二相对关系,确定用于校准一个或多个天线元件的校准信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于亚德诺半导体无限责任公司,未经亚德诺半导体无限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910130843.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top