[发明专利]一种用于综合孔径辐射计阵列的定标方法在审

专利信息
申请号: 201910131341.5 申请日: 2019-02-22
公开(公告)号: CN109828249A 公开(公告)日: 2019-05-31
发明(设计)人: 吴海涵;赵崇辉;崔广斌 申请(专利权)人: 北京遥感设备研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40;G01S13/90
代理公司: 中国航天科工集团公司专利中心 11024 代理人: 葛鹏
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用于综合孔径辐射计阵列的定标方法,其利用交流电源(1)、直流电源(2)、控制计算机(3)、显控模块(4)、综合孔径辐射计阵列(5),其中,显控模块(4)运行在控制计算机(3)上。系统工作时,交流电源(1)给各设备供电,待综合孔径辐射计阵列(5)工作状态稳定后,再进行定标流程。显控模块(4)接收到综合孔径辐射计阵列采集的电压信号后,进行定标流程,并将定标后的数据存储于控制计算机(3)中。本发明具有设备简单、操作简便、成本低等优点。
搜索关键词: 综合孔径辐射计 定标 控制计算机 显控模块 交流电源 电压信号 设备供电 数据存储 直流电源 采集
【主权项】:
1.一种用于综合孔径辐射计阵列的定标方法,其特征在于,将交流电源(1)的输出接口与直流电源(2)、控制计算机(3)的输入接口连接,用于提供220V交流电源;将直流电源(2)的输出接口与综合孔径辐射计阵列(5)的输入接口连接;将综合孔径辐射计阵列(5)的输出接口与控制计算机(3)的输入接口连接;显控模块(4)设置在控制计算机(3)上,所述显控模块(4)接收综合孔径辐射计阵列(5)采集的电压信号,进行定标流程,并将定标后的数据存储于控制计算机(3)中;所述定标方法的流程为:首先,开机准备工作;其次,进行幅度误差参数估计;再次,进行相位误差参数估计;最后,进行幅度误差和相位误差校正。
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