[发明专利]电路板的缺陷检测方法和装置在审

专利信息
申请号: 201910133360.1 申请日: 2019-02-22
公开(公告)号: CN109886950A 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 文亚伟;苏业;刘明浩;郭江亮;李旭 申请(专利权)人: 北京百度网讯科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/62;G06N3/04
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 宋合成
地址: 100085 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提出一种电路板的缺陷检测方法和装置,其中,方法包括:通过获取电路板的拍摄图像,将拍摄图像输入经过训练的实例分割模型,以获取实例分割模型输出的目标像素单元,目标像素单元是拍摄图像中呈现缺陷的像素单元;其中,实例分割模型已经学习得到存在缺陷的局部电路板的图像特征,以根据目标像素单元在拍摄图像中的面积占比,对电路板进行缺陷检测。由于实例分割模型已经学习得到存在缺陷的局部电路板的图像特征,因此,能够在拍摄图像中准确定位存在缺陷的目标像素单元,进而根据该目标像素单元在拍摄图像中的面积占比进一步进行校验以最终确定电路板是否存在缺陷,有助于提高被测电路板缺陷检测的精度和效率。
搜索关键词: 电路板 拍摄图像 目标像素单元 分割模型 缺陷检测 方法和装置 图像特征 像素单元 准确定位 校验 输出 学习 申请
【主权项】:
1.一种电路板的缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:获取电路板的拍摄图像;将所述拍摄图像输入经过训练的实例分割模型,以获取所述实例分割模型输出的目标像素单元,所述目标像素单元是所述拍摄图像中呈现缺陷的像素单元;其中,所述实例分割模型已经学习得到存在缺陷的局部电路板的图像特征;根据所述目标像素单元在所述拍摄图像中的面积占比,对所述电路板进行缺陷检测。
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