[发明专利]电源电压检测电路、半导体装置以及电子设备在审
| 申请号： | 201910137066.8 | 申请日： | 2019-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN110196397A | 公开（公告）日： | 2019-09-03 |
| 发明（设计）人： | 及川延幸;桑野俊一 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/40 | 分类号： | G01R31/40;G01R19/165 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 邓毅;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及电源电压检测电路、半导体装置以及电子设备。提供电源电压检测电路，防止由于在比较基于电源电压的比较电压与基准电压的比较电路中构成差动对的2个晶体管的栅极长时间被施加不同的电压而引起的偏移的产生，提高了电源电压的检测精度。该电源电压检测电路具有：基准电压生成电路，其生成基准电压；比较电压生成电路，其根据电源电压生成比较电压；比较电路，其包含构成差动对并且栅极被施加相同的偏置电压的第1晶体管和第2晶体管、以及分别与第1晶体管和第2晶体管串联连接并且源极分别被施加基准电压和比较电压的第3晶体管和第4晶体管，该比较电路生成表示比较电压与基准电压的比较结果的输出信号。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体管 比较电压 电源电压检测电路 基准电压 半导体装置 电源电压 电子设备 施加 差动 基准电压生成电路 电源电压生成 晶体管串联 偏置电压 生成电路 输出信号 偏移 源极 检测 | ||
【主权项】：
1.一种电源电压检测电路，其具有：基准电压生成电路，其生成基准电压；比较电压生成电路，其根据电源电压生成比较电压；以及比较电路，其具有构成差动对并且栅极被施加相同的偏置电压的第1晶体管和第2晶体管，并且包含与所述第1晶体管串联连接并且源极被施加所述基准电压的第3晶体管、以及与所述第2晶体管串联连接并且源极被施加所述比较电压的第4晶体管，该比较电路生成表示所述比较电压与所述基准电压的比较结果的输出信号。
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