[发明专利]用于介电性能测试的氮化硅纤维试样、制样方法及测试方法有效
申请号: | 201910141130.X | 申请日: | 2019-02-26 |
公开(公告)号: | CN109696583B | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 张娟;张大海;张敬义;周军;刘晓明 | 申请(专利权)人: | 航天材料及工艺研究所;中国运载火箭技术研究院 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 刘洁 |
地址: | 100076 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及用于介电性能测试的氮化硅纤维试样、制样方法及测试方法,属于复合材料技术领域。所述试样由氮化硅短纤维搭接形成,且搭接的所述氮化硅短纤维通过氧化硅粘接,所述氧化硅的质量为所述短纤维的1%~5%,所述氮化硅短纤维表面无上浆剂、长度≤0.5mm。本发明解决了氮化硅纤维不满足测试形状尺寸要求的难题,而且采用该方法制备的试样可以测试各个波段的高温介电性能,温度范围扩展至室温~1400℃。 | ||
搜索关键词: | 用于 性能 测试 氮化 纤维 试样 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于介电性能测试的氮化硅纤维试样,其特征在于,由氮化硅短纤维搭接形成,且搭接的所述氮化硅短纤维通过氧化硅粘接,所述氧化硅的质量为所述短纤维的1%~5%,所述氮化硅短纤维表面无上浆剂、长度≤0.5mm。
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