[发明专利]一种校正源存在条件下的短波多站直接定位方法

摘要

本发明涉及短波多站定位技术领域，公开一种校正源存在条件下的短波多站直接定位方法，该方法首先在短波目标源附近同时放置若干位置已知的短波校正源，并利用多个观测站中的均匀圆阵接收短波信号数据，然后确定信号到达不同观测站的方位角和仰角与其经纬度以及电离层虚高参数的关系，接着利用最大似然准则构造联合估计目标源经纬度、电离层虚高参数以及多阵列幅相误差的代价函数，最后利用交替迭代算法对目标源经纬度、电离层虚高以及多阵列幅相误差进行联合估计，从而确定目标的位置信息。由于校正源的存在，本发明提出的方法可以有效抑制阵列幅相误差对短波多站定位精度的影响。

主权项

1.一种校正源存在条件下的短波多站直接定位方法，其特征在于，包括：步骤1：在短波目标源所在区域周边同时放置D个经纬度已知的短波校正源；步骤2：利用N个观测站对目标源信号和D个校正源信号进行接收，每个观测站利用未得到通道校正的均匀圆阵采集K个信号样本，并建立K个信号样本对应的阵列信号模型；步骤3：确定目标源信号到达N个观测站的方位角和仰角分别与目标源经纬度及电离层虚高的关系；步骤4：确定D个校正源信号到达N个观测站的方位角和仰角分别与第d个校正源经纬度以及电离层虚高的关系；步骤5：每个观测站利用采集到的K个信号样本对应的阵列信号模型构造协方差矩阵，并将协方差矩阵传送至N个观测站中的中心站；步骤6：中心站利用N个观测站的协方差矩阵，基于最大似然准则构造联合估计目标源经纬度、电离层虚高以及多阵列幅相误差的代价函数；步骤7：根据目标源信号到达N个观测站的方位角和仰角分别与目标源经纬度及电离层虚高的关系、D个校正源信号到达N个观测站的方位角和仰角分别与第d个校正源经纬度以及电离层虚高的关系及所述代价函数，利用交替迭代算法对目标源经纬度、电离层虚高以及多阵列幅相误差进行联合估计，从而确定目标的位置信息。