[发明专利]一种测量天线间互阻抗的方法有效

专利信息
申请号: 201910145332.1 申请日: 2019-02-27
公开(公告)号: CN109782069B 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: 袁浩波;刘宏伟;贾建生;董欣欣;周虹光 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01R29/10
代理公司: 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 代理人: 刘杰
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种测量天线间互阻抗的方法,属于天线测量技术领域,通过获得第二天线在第二球面上的第二电场强度和第二磁场强度;根据正向球谐变换确定第一天线的第一球谐波展开系数和第二球谐波展开系数,其中,n、m均为整数;根据所述第一球谐波展开系数和所述第二球谐波展开系数,并采用FFT插值方法计算所述第一天线在第二球面上的第一电场强度和第一磁场强度;根据所述第一电场强度、第一磁场强度、第二电场强度和第二磁场强度,计算所述第一天线与所述第二天线之间的互阻抗值Z21。达到了快速、准确、稳定的分析任意两副天线间的互阻抗,具有通用性的技术效果。
搜索关键词: 一种 测量 天线 阻抗 方法
【主权项】:
1.一种测量天线间互阻抗的方法,其特征在于,所述方法包括:获得第二天线在第二球面上的第二电场强度和第二磁场强度根据正向球谐变换确定第一天线的第一球谐波展开系数an,m和第二球谐波展开系数bn,m,其中,n、m均为整数;根据所述第一球谐波展开系数和所述第二球谐波展开系数,并采用FFT插值方法计算所述第一天线在第二球面上的第一电场强度和第一磁场强度根据所述第一电场强度第一磁场强度第二电场强度和第二磁场强度计算所述第一天线与所述第二天线之间的互阻抗值Z21
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