[发明专利]一种X射线荧光测定锂长石中无机元素的方法在审
| 申请号： | 201910146813.4 | 申请日： | 2019-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN109738471A | 公开（公告）日： | 2019-05-10 |
| 发明（设计）人： | 苏建平;郭晓明;乔文韬 | 申请（专利权）人： | 上海精谱科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人： | 吕伴 |
| 地址： | 201806 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X射线荧光测定锂长石中无机元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：把待测样品研磨到200目以上，保证熔片样品的彻底熔解及不开裂；步骤二：根据锂长石中待测元素的含量确定样品与熔剂的比例；步骤三：根据试验熔片的质量确定熔样温度及熔样时间，脱模剂的种类及数量后进行溶样处理，制得玻璃溶片；步骤四：进一步确定X射线荧光测试条件后，采用已知化学分析的标准样品，按上述所确定的测试方法，进行测试，进行工作曲线标定，后将待测样品代入工作曲线后获得其含量指标。本发明的重复性和再现性均优于传统的化学方法，更便于操作。 | ||
| 搜索关键词： | 锂长石 待测样品 工作曲线 无机元素 熔片 熔样 重复性和再现性 测试 标准样品 测试条件 含量确定 含量指标 化学分析 质量确定 研磨 传统的 脱模剂 标定 熔剂 熔解 溶样 玻璃 试验 保证 | ||
【主权项】：
1.一种X射线荧光测定锂长石中无机元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：把待测样品研磨到200目以上，保证熔片样品的彻底熔解及不开裂；步骤二：根据锂长石中待测元素的含量确定样品与熔剂的比例；步骤三：根据试验熔片的质量确定熔样温度及熔样时间，脱模剂的种类及数量后进行熔样处理，制得玻璃熔片；步骤四：进一步确定X射线荧光测试条件后，采用已知化学分析的标准样品，按上述所确定的测试方法，进行测试，进行工作曲线标定，后将待测样品代入工作曲线后获得其含量指标。
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