[发明专利]海林格距离为参考标准的过采样的方法在审
| 申请号： | 201910147977.9 | 申请日： | 2019-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN109871897A | 公开（公告）日： | 2019-06-11 |
| 发明（设计）人： | 董明刚;姜振龙;敬超 | 申请（专利权）人： | 桂林理工大学 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 541004 广*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种海林格距离为参考标准的过采样方法。伪随机选取小类中某一样本点为参考点，采用SMOTE技术合成样本点，在合成样本点过程中，计算参考点所在小类与其它类的海林格距离，形成海林格距离矩阵，计算海林格距离矩阵列向量的最小值；将每次产生的样本点单独放入小类中，计算参考点所在小类和其它类的海林格距离，形成海林格距离矩阵，计算海林格距离矩阵列向量的最小值。比较两次海林格距离的最小值，判断合成样本点的质量。本发明能提高新合成样本点的质量，避免样本点重叠问题，达到了在尽可能小的影响其它类的情况下提高新合成样本点质量的目的，适用于在特定二类和多类不平衡数据集下提高过采样技术合成的样本点的拟合性和泛化性。 | ||
| 搜索关键词： | 样本点 距离矩阵 小类 参考点 过采样 参考标准 合成样本 技术合成 列向量 新合成 重叠问题 泛化性 拟合性 数据集 伪随机 放入 | ||
【主权项】：
1.一种海林格距离为参考标准的过采样的方法，其特征在于，海林格为标准的判断具体步骤为：(1)计算合成样本点之前参考点所在小类和其它各个类之间的海林格距离，形成距离矩阵M1；(2)取M1矩阵中每一列的最小值，形成行向量R1；(3)合成新的样本点，将每次新合成的样本点单独加入参考点所在小类中，形成新的小类C1，计算C1和其它各个类之间的海林格距离，形成距离矩阵M2；(4)取M2矩阵中每一列的最小值，形成行向量R2；(5)比较R1和R2大小来判定新产生样本点的质量。
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