[发明专利]一种槽孔特征的提取方法有效

专利信息
申请号: 201910150104.3 申请日: 2019-02-28
公开(公告)号: CN109855566B 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 魏志博;马坤 申请(专利权)人: 易思维(杭州)科技有限公司
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25;G06T7/60;G06T7/66
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310051 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种槽孔特征的提取方法,本发明利用双目视觉测量系统采集槽孔特征的左、右图像;提取槽孔轮廓边缘的二维点,进一步,获取槽孔轮廓边缘的三维图像点,对三维空间点信息通过RANSAC算法剔除杂点拟合出槽孔的半圆特征轮廓点、直线段轮廓点,并通过精确拟合得到的槽孔轮廓,最终得到槽孔特征参数:槽孔中心、宽度、长度,本方法测量精度能够达到微米级,测量时间在毫秒级,能够满足汽车行业等精密加工制造业的检测要求。
搜索关键词: 一种 特征 提取 方法
【主权项】:
1.一种槽孔特征的提取方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、利用双目视觉测量系统采集槽孔特征的左、右图像;步骤二、对所述左、右图像进行图像预处理,提取左、右图像的槽孔轮廓边缘二维点;步骤三、利用极线匹配方法将左、右图像中的槽孔轮廓边缘二维点转换到三维空间,获取槽孔轮廓的三维点坐标数据;记为点集Nj,j=1,2,…,m,m为槽孔轮廓的三维点坐标个数;步骤四、随机从点集Nj中取至少3个点,记为待拟合选点,利用所述待拟合选点拟合空间圆,得到拟合平面I及拟合空间圆I;计算所述空间圆I半径与理论半径R0的偏差值,将所述偏差值的绝对值与预设的阈值d比较;所述阈值d取值0~0.2mm;若所述偏差值小于等于阈值d,则所述空间圆I拟合正确,继续进行步骤五;反之,重新拟合空间圆I;步骤五、计算Fj,Dj,j=1,2,…,m;Fj为点集Nj中的j点到所述拟合平面I的距离;Dj为点集Nj中j点到所述拟合空间圆I的圆心的距离与拟合空间圆I半径的差值的绝对值;步骤六、预设有距离阈值T1和差值阈值T2,当同时满足Fj<T1,Dj<T2时,则对应j点是半圆空间局内点,遍历点集Nj中的所有点,计算Fj、Dj值,标记所有半圆空间局内点;遍历点集Nj内所有点,标记所有半圆的空间局内点;步骤七、统计所述半圆的空间局内点的数量,记为M,计算M与m的比值Ratio′;步骤八、对步骤四~步骤七进行q次迭代;选取M值中的最大值,记为Mmax,记录其所对应的半圆空间局内点为最终的半圆的图像三维点集,记为Ph′,h=1,2,…,Mmax;步骤九、从所述点集Nj中点集Ph′,得到另一个槽孔轮廓的三维投影点集Nj′,j=1,2,…,m′,m′为点集Nj去除点集Ph′内点后剩余槽孔轮廓的三维点的的个数;从所述点集Nj′中随机选取至少3个点,记为待拟合选点,拟合空间圆,作为拟合空间圆II,计算所述空间圆II半径与理论半径R0的偏差值,将所述偏差值的绝对值与预设的阈值d比较;所述阈值d取值0~0.2mm;若所述偏差值的绝对值大于阈值d,则所述空间圆II拟合错误,重新拟合空间圆II;反之,所述空间圆II拟合正确,按照步骤五~步骤八的方法对槽孔另一个半圆的图像三维点进行选择,得到点集Ph″;步骤十、求取槽孔特征参数。
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