[发明专利]布喇格光纤光栅阵列准分布式多参量测量的方法及装置在审
| 申请号： | 201910151143.5 | 申请日： | 2019-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN109855663A | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 余海湖;郑洲;桂鑫;李政颖;曹蓓蓓;郑羽 | 申请（专利权）人： | 武汉理工大学 |
| 主分类号： | G01D5/26 | 分类号： | G01D5/26 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 孙方旭;胡建平 |
| 地址： | 430070 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明设计了一种布喇格光纤光栅阵列准分布式多参量测量的方法及装置，具有定点涂层的光纤布喇格光栅阵列通过单模光纤与光纤布喇格光栅阵列解调仪连接。光纤布喇格光栅表面光纤具有多种不同涂层材料。光纤布喇格光栅阵列解调仪解调得到光纤光栅反射谱形状及位置。当外界环境变化时，光纤布喇格光栅表面不同涂层材料伸缩大小、折射率等变化不同。涂层的改变带动光纤的变化，从而使光纤布喇格光栅的单个反射峰分裂成多个反射峰。这些反射峰波长变化率不同，结合灵敏度矩阵方程，解调得到外界参量的变化。多个具有定点涂层的光纤布喇格光栅形成阵列，能够准分布式测量温度、应变等多个外界参量。 | ||
| 搜索关键词： | 光纤布喇格光栅 布喇格光纤光栅 多参量测量 涂层材料 外界参量 准分布式 反射峰 解调仪 解调 光纤 外界环境变化 准分布式测量 反射峰波长 灵敏度矩阵 单模光纤 光纤光栅 变化率 反射谱 折射率 伸缩 分裂 | ||
【主权项】：
1.一种布喇格光纤光栅阵列准分布式多参量测量的装置，其特征在于，光源、环形器、布喇格光纤光栅传感器阵列、解调仪顺次连接，从光源发出的光经环形器入射到光纤光栅传感器阵列中，随后反射回环形器，最后进入解调仪，布喇格光纤光栅双参量传感器阵列中的光栅表面涂覆一种或多种定点涂层材料。
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