[发明专利]一种测量射电望远镜主天线的反射面连接点变形的阵列光电系统

摘要

本发明请求保护一种测量射电望远镜主天线的反射面连接点变形的阵列光电系统，用于测量射电望远镜PT‑70(Suffa)主天线反射面连接点的变形情况，包括位于主镜基环上的24个基本单元，以及固定在PT‑70主天线反射面连接点上的多个红外激光光源。基本单元包括一个带有紧固件的物镜、带有调节装置的CMOS阵列接收器、3个基板和3根柱子，物镜和阵列接收器分别固定在基板上，3根柱子用于保证基本单元的刚度，每个基本单元的物镜都朝向天线顶部，两个相邻主轴之间的角度为15°。本发明具有结构简单、视场大、景深深、工作距离短等优点，可以实现多点位移的实时测量，可以测量直径为70m的射电望远镜PT‑70主天线反射面连接点的变形情况。

主权项

1.一种测量射电望远镜主天线的反射面连接点变形的阵列光电系统，其特征在于：用于测量射电望远镜PT‑70主天线反射面连接点的变形，包括位于PT‑70主天线基环(3)上的24个基本单元(1)，以及固定在若干PT‑70主天线反射面连接点上的红外激光光源(2)。