[发明专利]一种射频混合信号集成电路测试系统与测试方法有效
申请号: | 201910153501.6 | 申请日: | 2019-02-28 |
公开(公告)号: | CN109709474B | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 夏勇权;马宝锋 | 申请(专利权)人: | 西安太乙电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 710049 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种射频混合信号集成电路测试系统与测试方法,通过自动测试单元、测试接口单元、片外接口单元和控制主机组成测试系统;控制主机软件控制自动测试单元动作和输出测试报告;自动测试单元产生激励信号与期望信号、捕获响应信号以及返回比较结果至控制主机;测试接口单元连接自动测试单元并将各类型信号接口整合为低密度、对接工艺简单、区分信号类型的标准对外接口,双向传递激励、响应信号;片外接口单元的校准模块实现测试接口单元和片外接口单元的射频误差分离,待测电路通过片外接口单元连接到所述标准对外接口来输入激励信号和输出响应信号。实现了0.1GHz到12GHz射频混合信号集成电路通用、高性能、高效、低成本的一体化测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 射频 混合 信号 集成电路 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种射频混合信号集成电路测试系统,其特征在于,包括:自动测试单元,测试接口单元,片外接口单元和控制主机;所述自动测试单元用于根据待测器件需要用于向待测器件发送输入激励信号,并生成基于所述待测器件和所述输入激励信号的期望信号;接收待测器件响应于所述输入激励信号的输出响应信号;比较所述输出响应信号与所述期望信号,并输出比较结果;所述测试接口单元的一端接收所述输入激励信号,另一端采用标准对外接口将所述输入激励信号输出至片外接口单元;所述测试接口单元还用于接收所述片外接口单元的校准信号或/和待测器件的输出响应信号;实现自动测试单元与片外接口单元间信号的双向传输;所述片外接口单元用于接收所述输入激励信号,并输出至待测器件;所述片外接口单元还用于接收待测器件的输出响应信号,并输出至所述测试接口单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安太乙电子有限公司,未经西安太乙电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910153501.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。