[发明专利]一种高效的闪烁晶体性能测量方法在审
申请号: | 201910154676.9 | 申请日: | 2019-03-01 |
公开(公告)号: | CN109696703A | 公开(公告)日: | 2019-04-30 |
发明(设计)人: | 杨迪;应关荣 | 申请(专利权)人: | 明峰医疗系统股份有限公司 |
主分类号: | G01T7/00 | 分类号: | G01T7/00;G01T1/202 |
代理公司: | 绍兴市越兴专利事务所(普通合伙) 33220 | 代理人: | 蒋卫东 |
地址: | 312000 浙江省绍兴*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本申请公开一种高效的闪烁晶体性能测量方法,由高速模数转换器把描述闪烁晶体性能产生的模拟信号进行波形数字化,经过基线消除和极性变换后,在测量控制信号的甄别和筛选下,获取合适的或者需要的波形事例,再经过由计数器、微分器、积分器、延迟器等构成的测量单元的测量下,实现波形的参数测量和统计,进而得到闪烁晶体的性能,最终测量数据存入存储器并被读出。与示波器或采集板卡采集方法相比,这种方法可以采用多种参数进行灵活甄别、实现实时测量和测量结果存储,因此具有测量效率高、波形测量参数可配置、兼容性强,数据传输压力小等优点。 | ||
搜索关键词: | 闪烁晶体 性能测量 高速模数转换器 测量控制信号 数据传输压力 计数器 波形数字化 存储器 波形测量 采集板卡 参数测量 测量单元 测量数据 测量效率 极性变换 模拟信号 实时测量 积分器 兼容性 可配置 示波器 微分器 延迟器 基线 读出 测量 存储 采集 筛选 灵活 申请 统计 | ||
【主权项】:
1.一种高效的闪烁晶体性能测量方法,其特征在于,包括:ADC转换单元、测量控制单元、缓存和预处理单元、波形参数测量、波形参数LUT控制、FIFO存储、RAM存储单元,其中,所述ADC转换单元,用于接收代表闪烁晶体性能信息的模拟信号,并对其进行波形数字化,并把转换后的数字信号发送至缓存和预处理单元;所述测量控制单元,由配置寄存器、定时器以及数据包标识发生器组成等组成,用于在设置的时间间隔内测量数字化的波形信号,所述定时器是用于设置测量时间长度以实现计数率测量,所述数据包标识发生器在启动测量时产生一个数据包标识,用于区分相邻采集次数下的测量数据;所述缓存和预处理单元,在阈值与定时控制单元的控制下,接收ADC转换单元输出的数字信号,用于获取波形的基线,进行波形极性判断和变换,使输出的波形是消除基线的正极性信号;所述波形参数测量单元,由寄存器、比较器、计数器、差分器、积分器等组成,在阈值模式和波形参数控制下,筛选消除基线后的波形信号,并且测量事例波形信号的波形参数数据,包括前沿时间长度、后沿时间长度、波形宽度、峰值高度、半高宽、和波形面积,实现不同事例波形的识别;所述波形参数LUT控制单元,用于设置筛波形信号的时间阈值,如前沿时间、脉宽、后沿时间等,并且对满足时间阈值参数的事例波形时间参数进行统计并构成查找表和进行反馈控制;所述FIFO存储单元,用于接收波形测量单元输出的信号或数据包标识,并根据设置的模式把数据分别发送到波形参数LUT控制单元或者RAM存储单元;所述RAM存储单元,用于接收所述FIFO存储单元的波形数据,以及波形参数LUT单元并在读出信号控制下将数据输出。
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