[发明专利]发光二极管芯片分档色差的检验方法和装置有效
| 申请号： | 201910154889.1 | 申请日： | 2019-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN110095191B | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 林云真;陈建南;马双彪;顾小云;吴志浩;王力明;王江波 | 申请（专利权）人： | 华灿光电（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/46 | 分类号： | G01J3/46 |
| 代理公司： | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人： | 徐立 |
| 地址： | 215600 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种发光二极管芯片分档色差的检验方法和装置，属于半导体技术领域。所述检验方法包括：获取发光二极管芯片的色坐标值、以及所述发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值；当所述发光二极管芯片的色坐标值在为第一档位设定的色坐标值范围内时，判定所述发光二极管芯片属于所述第一档位，所述第一档位为用于发光二极管芯片分档的任意一个档位；按照属于所述第一档位的各个发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块，并将属于所述第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列形成的图像输出，以检验属于所述第一档位的多个发光二极管芯片是否存在色差。本发明可以实现LED芯片的有效分档，充分满足市场的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 芯片 分档 色差 检验 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种发光二极管芯片分档色差的检验方法，其特征在于，所述检验方法包括：获取发光二极管芯片的色坐标值、以及所述发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值；当所述发光二极管芯片的色坐标值在为第一档位设定的色坐标值范围内时，判定所述发光二极管芯片属于所述第一档位，所述第一档位为用于发光二极管芯片分档的任意一个档位；按照属于所述第一档位的各个发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块，并将属于所述第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列形成的图像输出，以检验属于所述第一档位的多个发光二极管芯片是否存在色差。
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