[发明专利]一种基于V形线圈激励的涡流-超声检测探头有效

专利信息
申请号: 201910157736.2 申请日: 2019-03-02
公开(公告)号: CN109781838B 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 王晓红;黄超;吴德会 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: G01N27/90 分类号: G01N27/90;G01N29/24
代理公司: 福州智理专利代理有限公司 35208 代理人: 王义星
地址: 361102 福建省厦门市*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开一种基于V形线圈激励的涡流‑超声检测探头,用于检测非铁磁性金属材料表面缺陷并可进一步确定缺陷位置,包括屏蔽壳、V形涡流线圈、永磁体、α‑超声拾取传感器和γ‑超声拾取传感器。将V形涡流线圈、永磁体、α‑超声拾取传感器和γ‑超声拾取传感器安装在屏蔽壳内形成探头;所述V形涡流线圈固定于屏蔽壳底部,包括α‑直导线和γ‑直导线;在本发明中利用永磁体将V形涡流线圈检测结果转化为两路独立的超声波信号,因此对缺陷的探查及其具体位置的确定可以由对两路独立的超声波信号的分析得到。本发明既能对待测非铁磁性金属材料进行大面积探查,又能确定缺陷的具体位置。
搜索关键词: 一种 基于 线圈 激励 涡流 超声 检测 探头
【主权项】:
1.一种基于V形线圈激励的涡流‑超声检测探头,其特征在于包括屏蔽壳、V形涡流线圈、永磁体、α‑超声拾取传感器和γ‑超声拾取传感器,将V形涡流线圈、永磁体、α‑超声拾取传感器和γ‑超声拾取传感器安装在屏蔽壳内形成探头;所述V形涡流线圈固定于屏蔽壳底部,包括α‑直导线和γ‑直导线;α‑直导线和γ‑直导线在同一平面内,并在一个端点处相交,该端点处记为交点;两直导线之间的夹角(θ)为60°‑170°之间;所述永磁体置于V形涡流线圈上方且形成偏置磁场,该偏置磁场方向垂直于V形涡流线圈所处平面;所述α‑超声拾取传感器和γ‑超声拾取传感器均置于V形涡流线圈所处平面内,且α‑超声拾取传感器置于α‑直导线的中垂线上,γ‑超声拾取传感器置于γ‑直导线的中垂线上。
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