[发明专利]光学发射光谱仪的校准器在审

专利信息
申请号: 201910160116.4 申请日: 2019-03-04
公开(公告)号: CN110320183A 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 文丁一;李衡周;宣钟宇;具滋明;黄载雄;安宗焕 申请(专利权)人: 三星电子株式会社;细美事有限公司
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 尹淑梅;刘美华
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供了一种光学发射光谱仪(OES)的校准器。该OES的校准器可以包括盖、参考光源和控制器。盖可以与等离子体处理设备的等离子体腔室的顶板可拆卸地结合。参考光源可以安装在盖处,以通过等离子体腔室的内部空间向OES照射参考光。控制器可以将入射到OES的参考光的光谱与在等离子体腔室中的等离子体处理期间输入到OES的实际光的光谱进行比较以校准OES。因此,可以在不从等离子体室拆卸OES的情况下校准OES,以减少用于校准OES的时间。
搜索关键词: 等离子体腔室 校准 校准器 参考光源 控制器 参考光 光谱 等离子体处理设备 等离子体处理 光学发射光谱 等离子体室 光谱仪 光学发射 可拆卸 入射 拆卸 照射
【主权项】:
1.一种光学发射光谱仪的校准器,所述校准器包括:盖,被配置为与等离子体腔室的顶板可拆卸地结合;参考光源,位于盖处,参考光源被配置为通过等离子体腔室向光学发射光谱仪照射参考光;以及控制器,被配置为通过将入射到光学发射光谱仪的参考光的光谱与在等离子体腔室中执行的等离子体处理期间入射到光学发射光谱仪的实际光的光谱进行比较,来校准光学发射光谱仪。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社;细美事有限公司,未经三星电子株式会社;细美事有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910160116.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top