[发明专利]一种稀疏点云的目标物尺寸测量方法有效

专利信息
申请号: 201910161137.8 申请日: 2019-03-04
公开(公告)号: CN109903327B 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 彭琪;李洁;庄奕琪;蒋山平 申请(专利权)人: 西安电子科技大学;北京卫星环境工程研究所
主分类号: G06T7/60 分类号: G06T7/60;G06T7/13;G06T7/80;G06T7/136;G01B11/00;G01B11/24
代理公司: 西安研创天下知识产权代理事务所(普通合伙) 61239 代理人: 孙李林
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种稀疏点云的目标物尺寸测量方法,包括以下技术步骤:将点云坐标系转换成图像像素坐标系;对点云数据在XY平面进行投影,得到二维点云;对匹配后的图像用Canny算子进行边缘检测;采用图像形态学方法对边缘轮廓线进行去噪及细化;对点云图像进行遍历搜索,与二值轮廓图像进行像素点坐标匹配;将匹配吻合的点云坐标提取出来构成新的点云,对新的点云进行直线拟合和尺寸测量。本发明通过对点云图像与立体匹配后的轮廓图像的重叠,进而提取出轮廓线上的点云,再利用线性拟合算法对提取出的新点云坐标进行直线拟合,进一步进行尺寸测量。
搜索关键词: 一种 稀疏 目标 尺寸 测量方法
【主权项】:
1.一种稀疏点云的目标物尺寸测量方法,其特征在于,包括以下技术步骤:步骤(1),将点云坐标系转换成图像像素坐标系;步骤(2),对点云数据在XY平面进行投影,得到二维点云;步骤(3),对匹配后的图像用Canny算子进行边缘检测;步骤(4),采用图像形态学方法对边缘轮廓线进行去噪及细化;步骤(5),对点云图像进行遍历搜索,与二值轮廓图像进行像素点坐标匹配;步骤(6),将匹配吻合的点云坐标提取出来构成新的点云,对新的点云进行直线拟合和尺寸测量。
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