[发明专利]一种基于灰色系统理论LED芯片热振加速寿命预测方法在审
| 申请号： | 201910163852.5 | 申请日： | 2019-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN110045257A | 公开（公告）日： | 2019-07-23 |
| 发明（设计）人： | 杨平;普晶晶;李东波;杨兵 | 申请（专利权）人： | 江苏大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G06F17/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 212013 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于灰色系统理论LED芯片热振加速寿命预测方法，首先通过对LED芯片施加不同加载模式下的加速应力，采集不同加速应力下的寿命实验原始数据，然后运用灰色系统理论对实验原始数据进行灰处理，获得灰色分析数据，并构建灰色系统理论预测模型，最后对所建灰色系统理论模型进行灰色关联度分析。与现有技术相比，灰色系统预测模型不用考虑温振相互作用关系及物理失效规律相关的统计模型，可获得高效、准确的预测与评估。本发明能够通过加速应力下的原始寿命数据，通过灰色系统理论的数列预测，来预估正常工作时热和振动双应力下LED芯片的寿命，预测结果更接近工程实际，可为设计和生产高性能、高稳定性LED芯片提供科学数据理论参考依据。 | ||
| 搜索关键词： | 灰色系统理论 预测 加速寿命 预测模型 原始数据 灰色关联度分析 预估 参考依据 分析数据 高稳定性 灰色系统 加载模式 科学数据 失效规律 寿命实验 寿命数据 统计模型 预测结果 数列 构建 采集 施加 评估 生产 | ||
【主权项】：
1.一种基于灰色系统理论LED芯片热振加速寿命预测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤(1)，通过对LED芯片施加不同加载模式下的加速应力，采集不同加速应力下的寿命实验原始数据；步骤(2)，运用灰色系统理论对实验原始数据进行灰处理，获得灰色系统理论分析数据，并构建灰色系统理论预测模型；步骤(3)，对构建好的灰色系统理论预测模型进行灰色关联度分析。
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