[发明专利]一种融合密集连接结构的柔性基板缺陷检测方法在审
| 申请号： | 201910166742.4 | 申请日： | 2019-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN109978014A | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 罗家祥;吴冬冬;林宗沛;胡跃明 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G06T7/00 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 王东东 |
| 地址： | 510640 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种融合密集连接结构的柔性基板缺陷检测方法，包括获取带有缺陷的FICS图片，对图片进行预处理后统一为标准尺寸，标注缺陷的位置与类别，作为SSD框架模型的训练样本；构建SSD框架模型，采用VGG‑16作为SSD框架的基础网络结构，并增加N层卷积层，该基础网络结构还包括密集连接结构；训练样本输入SSD框架模型，引入迁移学习方法对框架模型进行训练，得到训练好的SSD框架模型；将待检测图片输入训练好的SSD框架模型，输出待检测图片的缺陷位置及类型。本发明可以实现柔性基板外观缺陷的快速定位与类型判断，解决了传统缺陷检测方法速度慢，正确率低，无法同时检测多种缺陷的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 框架模型 连接结构 柔性基板 检测 缺陷检测 网络结构 训练样本 预处理 传统缺陷 快速定位 缺陷位置 图片输入 外观缺陷 融合 正确率 构建 卷积 标注 图片 迁移 输出 引入 统一 学习 | ||
【主权项】：
1.一种融合密集连接结构的柔性基板缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取带有缺陷的FICS图片，对图片进行预处理后统一为标准尺寸，标注缺陷的位置与类别，作为SSD框架模型的训练样本；构建SSD框架模型，采用VGG‑16作为SSD框架的基础网络结构，并增加N层卷积层，该基础网络结构还包括密集连接结构；训练样本输入SSD框架模型，引入迁移学习方法对框架模型进行训练，得到训练好的SSD框架模型；将待检测图片输入训练好的SSD框架模型，输出待检测图片的缺陷位置及类型。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学，未经华南理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910166742.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
