[发明专利]一种辐照后板型元件厚度测量专用夹具在审

专利信息
申请号: 201910167984.5 申请日: 2019-03-06
公开(公告)号: CN109737860A 公开(公告)日: 2019-05-10
发明(设计)人: 陈哲;熊源源;余飞杨;傅源杰;江林志;尹春艳;高艮涛 申请(专利权)人: 中国核动力研究设计院
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06;B25B11/00
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 廖慧敏
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种辐照后板型元件厚度测量专用夹具,解决了现有技术中的采用单测头测量不平整的板型元件时会产生较大的厚度测量误差,进而影响测量结果准确性的问题。本发明包括测量架,设置在测量架上用于放置辐照后板型元件的测量台面;所述测量台面上设置有测量通槽,所述测量台面下方设置有第一电感测头夹头,该第一电感测头夹头的测尖穿过测量通槽与测量台面的上平面位于同一平面内;所述测量台面上方还设置有第二电感测头夹头,以及用于将第二电感测头夹头下降到辐照后板型元件上表面的高度调节装置。本发明可以提高测量准确性,并确保测量时两个测头之间夹持力的一致性,使测量结果具有较高的重复性。
搜索关键词: 板型元件 辐照 电感测头 测量 夹头 测量台面 厚度测量 专用夹具 测量架 测量台 测头 通槽 高度调节装置 影响测量结果 夹持力 上表面 上平面 测尖 平整 穿过
【主权项】:
1.一种辐照后板型元件厚度测量专用夹具,包括测量架,设置在测量架上用于放置辐照后板型元件的测量台面(5);其特征在于,所述测量台面(5)上设置有测量通槽(8),所述测量台面(5)下方设置有第一电感测头夹头(4),该第一电感测头夹头(4)的测尖刚好穿过测量通槽(8)与测量台面(5)的上平面位于同一平面内;所述测量台面(5)上方还设置有第二电感测头夹头(9),以及用于将第二电感测头夹头(9)下降到辐照后板型元件上表面的高度调节装置。
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