[发明专利]阻尼结构降噪性能试验支架、试验装置及其方法有效
申请号: | 201910169339.7 | 申请日: | 2019-03-06 |
公开(公告)号: | CN109827728B | 公开(公告)日: | 2020-10-09 |
发明(设计)人: | 熊志远;宋瑞祥;吴瑞;赵娜;赵阳 | 申请(专利权)人: | 北京市劳动保护科学研究所 |
主分类号: | G01M7/02 | 分类号: | G01M7/02 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 苗青盛;谭云 |
地址: | 100054 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及阻尼材料检测领域,公开了一种阻尼结构降噪性能试验支架、试验装置及其方法,阻尼结构降噪性能试验支架包括两个连接板、第一支撑板和第二支撑板;两个连接板固定在振动台上且间隔设置,两个连接板的侧沿对应设有沿上下方向延伸的第一长形通孔和沿前后方向延伸的第二长形通孔;第一支撑板受所述第一长形通孔限位,与两个连接板转动连接;第二支撑板受所述第二长形通孔限位,与两个连接板转动连接。本发明通过在连接板的侧沿对应设置沿上下方向延伸的第一长形通孔和沿前后方向延伸的第二长形通孔,将支撑板对应的长形通孔限位,转动连接在连接板之间,使该测试支架能够调整试样旋转角度,适用于各种阻尼结构试样和多种实验条件。 | ||
搜索关键词: | 阻尼 结构 性能 试验 支架 试验装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
1.一种阻尼结构降噪性能试验支架,其特征在于,包括:两个连接板、第一支撑板和第二支撑板;两个所述连接板固定在振动台上且间隔设置,两个所述连接板的侧沿对应设有沿上下方向延伸的第一长形通孔和沿前后方向延伸的第二长形通孔;所述第一支撑板受所述第一长形通孔限位,并与两个所述连接板转动连接;所述第二支撑板受所述第二长形通孔限位,并与两个所述连接板转动连接。
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