[发明专利]半导体三温自动测试生产线在审
| 申请号： | 201910171870.8 | 申请日： | 2019-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN110065814A | 公开（公告）日： | 2019-07-30 |
| 发明（设计）人： | 邓志威;周伟 | 申请（专利权）人： | 安徽奥博智能科技有限公司 |
| 主分类号： | B65G47/90 | 分类号： | B65G47/90 |
| 代理公司： | 合肥中博知信知识产权代理有限公司 34142 | 代理人： | 张加宽 |
| 地址： | 233020 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了半导体三温自动测试生产线，包括高温测试线、低温测试线以及设置在所述高温测试线与所述低温测试线之间的SCARA机器人，高温测试线，所述高温测试线的末端设置有控制柜，所述高温测试线包括底座、高温测试箱，所述底座上表面前后两端分别活动设置有上料台和高温转转接台，所述高温测试箱设置在所述底座的中部；低温测试线，所述低温测试线的末端设置有测试机电脑，所述低温测试箱设置在所化底座的中部；SCARA机器人，本发明全线均采用全检测自动、模块化设计，整线测试无需人员操作。 | ||
| 搜索关键词： | 高温测试 低温测试 底座 自动测试 半导体 机器人 底座上表面 模块化设计 活动设置 人员操作 转接 测试机 控制柜 上料台 测试 检测 电脑 | ||
【主权项】：
1.半导体三温自动测试生产线，包括高温测试线、低温测试线以及设置在所述高温测试线与所述低温测试线之间的SCARA机器人(4)，其特征在于：高温测试线，所述高温测试线的末端设置有控制柜(10)，所述高温测试线包括底座(17)、高温测试箱(2)，所述底座(17)上表面前后两端分别活动设置有上料台(1)和高温转转接台(3)，所述高温测试箱(2)设置在所述底座(17)的中部；低温测试线，所述低温测试线的末端设置有测试机电脑(12)，所述低温测试线包括底座(17)、低温测试箱(2)，所述底座(17)上表面前后两端分别活动设置有下料台(9)和低温转接台(7)，且低温转接台(7)与所述高温转接台(3)结构相同，所述低温测试箱(8)设置在所化底座(17)的中部；SCARA机器人(4)，所述SCARA机器人(4)安装在滑台(6)上表面，所述高温测试线与所述低温测试线之间设置有滑轨(5)，所述滑台(6)滑动设置在所述滑轨(5)上。
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