[发明专利]一种用于薄膜振动模态测试的低真空罐有效

专利信息
申请号: 201910175203.7 申请日: 2019-03-08
公开(公告)号: CN109959494B 公开(公告)日: 2021-02-09
发明(设计)人: 陈务军;张祎贝;谢超;彭福军;张华 申请(专利权)人: 上海交通大学;上海宇航系统工程研究所
主分类号: G01M7/02 分类号: G01M7/02
代理公司: 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 代理人: 郑立
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种用于薄膜振动模态测试的低真空罐,其特征在于,包括大尺寸观察窗及罐主体,所述罐主体包括上盖、密封圈、下盖,所述上盖的顶部开有圆形窗,所述大尺寸观察窗安装于所述圆形窗上,所述上盖与所述下盖之间安装有所述密封圈。本发明具有较大的内径尺寸,可容纳薄膜的张拉机构;同时具有大尺寸观察窗,可以满足罐体外的光学测量设备对罐体内的薄膜结构的振动位移或速度进行测量,在增大体积的同时不增加罐壁的厚度,结构简单,使用方便,特别适用于低真空度的(1kPa)薄膜振动试验。
搜索关键词: 一种 用于 薄膜 振动 测试 真空
【主权项】:
1.一种用于薄膜振动模态测试的低真空罐,其特征在于,包括大尺寸观察窗及罐主体,所述罐主体包括上盖、密封圈、下盖,所述上盖的顶部开有圆形窗,所述大尺寸观察窗安装于所述圆形窗上,所述上盖与所述下盖之间设置有所述密封圈。
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