[发明专利]一种自动化单粒子辐照测试控制系统及方法

摘要

本发明涉及一种自动化单粒子辐照测试控制系统及方法，包括实验仪器程控模块、注量率监测模块、错误数统计模块、计时检测模块。本发明通过预设辐照条件阈值，实现了芯片辐照测试自动的开启和关闭，有效的提高了集成电路单粒子辐照试验的自动化程度，减小了单粒子辐照试验机时的浪费和实验人员的工作量；同时生成的数据文件包含了全部的试验数据(粒子注量率、粒子总注量、测试电流、单粒子错误数、测试波形)，提高了单粒子试验准确度，便于后续人员对试验结果的分析。

主权项

1.一种自动化单粒子辐照测试控制系统，其特征在于包括实验仪器程控模块、注量率监测模块、错误数统计模块和计时检测模块；试验仪器程控模块，接收到计时检测模块发送的启动信号后，启动程控电源、信号发生器、示波器进入工作模式，程控电源用于为单粒子辐照测试平台提供电流并监测芯片电流，信号发生器用于为单粒子辐照测试平台中被测芯片提供的测试激励信号波形；示波器用于采集记录单粒子辐照测试平台中被测芯片的测试信号波形；注量率监测模块，实时监测单粒子辐照测试用的加速器粒子探测装置输出的粒子注量率，自动根据预设粒子注量率标准判断粒子注量率是否稳定，给出粒子注量率是否稳定的标识信号，将粒子注量率以及粒子注量率是否稳定的标识信号发送至计时检测模块；计时检测模块，在预设的辐照条件满足情况下，根据粒子注量率是否稳定的标志信号，实时监测待注量率参数稳定状态，当注量率参数稳定时，自动向试验仪器程控模块发送启动信号，同时向错误数统计模块发送模式命令字，根据粒子注量率累计实际粒子总注量，当待注量率参数不稳定时，向试验仪器程控模块发送关闭信号，停止采集和分析；所述辐照条件包括芯片电流、单粒子错误计数或者粒子总注量小于各自预设的门限；错误数统计模块，收到计时检测模块发送的模式命令字之后，进入不同的测试模式，控制辐照测试系统进行相应测试模式下的单粒子错误检测，同时将单粒子错误数发送给计时检测模块。