[发明专利]一种加速器质谱测量方法和系统有效

专利信息
申请号: 201910180677.0 申请日: 2019-03-11
公开(公告)号: CN109830423B 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 姜山 申请(专利权)人: 姜山
主分类号: H01J49/00 分类号: H01J49/00;H01J49/10;G01N27/64
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100036 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请实施例提供了一种加速器质谱测量系统,涉及AMS技术领域。该加速器质谱测量系统包括:ECR强流正离子源子系统,注入器子系统,强流加速器子系统,高能分析子系统和高分辨探测器子系统;所述ECR强流正离子源子系统,注入器子系统,强流加速器子系统,高能分析子系统和高分辨探测器子系统按序连接;所述ECR强流正离子源子系统用于产生多电荷态的强流正离子;所述强流加速器子系统用于直接对强流正离子进行加速。本申请实施例具有束流强、总效率高和压低本底能力强等优点,能够大幅度提高测量的丰度灵敏度。
搜索关键词: 一种 加速器 测量方法 系统
【主权项】:
1.一种加速器质谱测量系统,其特征在于,包括:ECR强流正离子源子系统,注入器子系统,强流加速器子系统,高能分析子系统和高分辨探测器子系统;所述ECR强流正离子源子系统,注入器子系统,强流加速器子系统,高能分析子系统和高分辨探测器子系统按序连接;所述ECR强流正离子源子系统用于产生多电荷态的强流正离子;所述强流加速器子系统用于直接对强流正离子进行加速。
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