[发明专利]一种加速器质谱测量方法和系统有效
申请号: | 201910180677.0 | 申请日: | 2019-03-11 |
公开(公告)号: | CN109830423B | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 姜山 | 申请(专利权)人: | 姜山 |
主分类号: | H01J49/00 | 分类号: | H01J49/00;H01J49/10;G01N27/64 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100036 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请实施例提供了一种加速器质谱测量系统,涉及AMS技术领域。该加速器质谱测量系统包括:ECR强流正离子源子系统,注入器子系统,强流加速器子系统,高能分析子系统和高分辨探测器子系统;所述ECR强流正离子源子系统,注入器子系统,强流加速器子系统,高能分析子系统和高分辨探测器子系统按序连接;所述ECR强流正离子源子系统用于产生多电荷态的强流正离子;所述强流加速器子系统用于直接对强流正离子进行加速。本申请实施例具有束流强、总效率高和压低本底能力强等优点,能够大幅度提高测量的丰度灵敏度。 | ||
搜索关键词: | 一种 加速器 测量方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种加速器质谱测量系统,其特征在于,包括:ECR强流正离子源子系统,注入器子系统,强流加速器子系统,高能分析子系统和高分辨探测器子系统;所述ECR强流正离子源子系统,注入器子系统,强流加速器子系统,高能分析子系统和高分辨探测器子系统按序连接;所述ECR强流正离子源子系统用于产生多电荷态的强流正离子;所述强流加速器子系统用于直接对强流正离子进行加速。
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