[发明专利]一种寄存器测试方法及系统在审
| 申请号： | 201910181369.X | 申请日： | 2019-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN109918256A | 公开（公告）日： | 2019-06-21 |
| 发明（设计）人： | 刘业凡;徐琴;黄以亮;钱斌 | 申请（专利权）人： | 中电海康无锡科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/263 | 分类号： | G06F11/263 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 殷红梅 |
| 地址： | 214135 江苏省无锡市新吴区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片寄存器功能测试技术领域，具体涉及一种寄存器测试方法及系统。所述寄存器测试方法具体包括以下步骤：确定寄存器的位域信息并设置各个位域的寄存器属性信息；获取被测寄存器的寄存器信息，所述寄存器信息包括寄存器的位域信息以及各个位域的寄存器属性信息；根据获取的寄存器信息，按被测寄存器的位域依次判断被测寄存器各个位域的寄存器属性；按照被测寄存器的位域寄存器属性依次进行与其各自寄存器属性相匹配的测试。所述寄存器测试系统包括：位域设置模块、获取模块、判断模块和测试模块。所述寄存器测试方法及系统能够对具有多种属性的特殊寄存器实现自动化测试。 | ||
| 搜索关键词： | 寄存器 寄存器测试 寄存器信息 属性信息 域信息 芯片寄存器 域设置模块 自动化测试 测试模块 功能测试 获取模块 判断模块 域寄存器 匹配 测试 | ||
【主权项】：
1.一种寄存器测试方法，其特征在于，所述寄存器测试方法具体包括以下步骤：S100：确定寄存器的位域信息并设置各个位域的寄存器属性信息；S200：获取被测寄存器的寄存器信息，所述寄存器信息包括寄存器的位域信息以及各个位域的寄存器属性信息；S300：根据获取的寄存器信息，按被测寄存器的位域依次判断被测寄存器各个位域的寄存器属性；S400：按照被测寄存器的位域寄存器属性依次进行与其各自寄存器属性相匹配的测试。
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