[发明专利]一种基于X射线吸收的大气密度测量系统

摘要

本发明公开了一种基于X射线吸收的大气密度测量系统，该系统位于真空腔(8)内，所述系统包括：X射线源(1)、SDD探测器(2)、高精度坐标仪(3)、第一X射线屏蔽罩(4)、第二X射线屏蔽罩(5)和控制器与数采处理终端(6)；所述SDD探测器(2)与X射线源(1)同轴相对放置；所述X射线源(1)，用于提供测量所需的X射线光源；所述SDD探测器(2)，用于接收X射线能谱计数，并对其进行能量标定、量子效率标定、死时间标定、发散角标定，获得标定后的X射线能谱计数；所述控制器与数采处理终端(6)，用于根据标定后的X射线能谱计数和X射线泊松统计极大似然估计，进行贝叶斯估计，获得地面大气密度。

主权项

1.一种基于X射线吸收的大气密度测量系统，该系统位于真空腔(8)内，其特征在于，所述系统包括：X射线源(1)、SDD探测器(2)、高精度坐标仪(3)、第一X射线屏蔽罩(4)、第二X射线屏蔽罩(5)和控制器与数采处理终端(6)；所述SDD探测器(2)与X射线源(1)同轴相对放置，且等距离增加二者之间的距离；所述X射线源(1)，用于提供测量所需的X射线光源，并发出X射线光子；所述SDD探测器(2)，用于接收每次移动位置后的经过大气吸收衰减后的X射线能谱计数，并对其进行能量标定、量子效率标定、死时间标定、发散角标定，获得标定后的X射线能谱计数；所述高精度坐标仪(3)，用于分别测量X射线源(1)和SDD探测器(2)的位置坐标，进而得到X射线经过大气吸收衰减后的路径长度；所述第一X射线屏蔽罩(4)，其位于X射线源(1)的一侧，用于对X射线源(1)周围的辐射进行屏蔽；所述第二X射线屏蔽罩(5)，其位于X射线源(1)的另一侧，且与第一X射线屏蔽罩(4)相对，用于对X射线源(1)周围的辐射进行屏蔽；所述控制器与数采处理终端(6)，用于根据标定后的X射线能谱计数和X射线泊松统计极大似然估计，进行贝叶斯估计，获得地面大气密度。