[发明专利]二维层状材料异质结堆叠序列的检测方法及光谱测量系统有效
| 申请号： | 201910184878.8 | 申请日： | 2019-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN110082297B | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 时佳;杜文娜;刘新风 | 申请（专利权）人： | 国家纳米科学中心 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王庆龙;苗晓静 |
| 地址： | 100190 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种二维层状材料异质结堆叠序列的检测方法及光谱测量系统，该方法包括：采集待检测异质结中单层层状材料区域和异质结区域在不同转动角度下分别对应的二次谐波光谱；提取二次谐波光谱中的单层层状材料区域和异质结区域在不同转动角度下分别对应的二次谐波信号峰值；根据二次谐波信号峰值获取第一极坐标分布图和第二极坐标分布图；比对第一极坐标分布图与第二极坐标分布图中二次谐波信号强度的大小，获得异质结的堆叠序列检测结果。本发明实施例通过利用层状材料堆叠为中心对称结构时，二次谐波信号为零的特点，采用光学手段作为探针，降低了对异质结样品的要求，无需将样品转移到目载网上，检测方法简便，实现快速无损检验。 | ||
| 搜索关键词： | 二维 层状 材料 异质结 堆叠 序列 检测 方法 光谱 测量 系统 | ||
【主权项】：
1.一种二维层状材料异质结堆叠序列的检测方法，其特征在于，包括：采集待检测异质结中单层层状材料区域和异质结区域在不同转动角度下分别对应的二次谐波光谱；提取所述二次谐波光谱中的所述单层层状材料区域和所述异质结区域在不同转动角度下分别对应的二次谐波信号峰值；根据所述二次谐波信号峰值获取第一极坐标分布图和第二极坐标分布图；其中，所述第一极坐标分布图用于表示不同转动角度对应的所述单层层状材料区域的二次谐波信号强度，所述第二极坐标分布图用于表示不同转动角度对应的所述异质结区域的二次谐波信号强度；比对所述第一极坐标分布图与所述第二极坐标分布图中二次谐波信号强度的大小，获得所述异质结的堆叠序列检测结果。
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