[发明专利]微处理器体系结构级软错误易感性评估方法

摘要

本发明是微处理器体系结构级软错误易感性评估方法。本发明从存储部件和非存储部件两个方面对微处理器的部件进行软错误易感性评估。对于非存储部件，首先采用指令分析的方法，对ACE指令与un‑ACE指令进行分类。在指令分析的过程中，将逻辑屏蔽指令划分为ACE指令。但是逻辑屏蔽指令中仍然包含un‑ACE位，发生软错误时并不会对程序执行结果产生影响。因此本发明通过逻辑分析找出更多的un‑ACE位；对于存储部件，同样先进行指令分析并采用逻辑校正模块，找到更多的un‑ACE位。同时，对存储部件进行生命周期分析，从而对存储部件进行软错误易感性评估。本发明通过采用逻辑校正模块提供了一种更准确的软错误易感性评估方法。

主权项

1.一种微处理器体系结构级软错误易感性评估方法，其特征是：所述方法采用参数配置模块、测试程序模块、指令分析模块、逻辑校正模块、生命周期分析模块和软错误易感性分析模块，所述方法包括以下步骤：步骤一：选取一个模拟器，通过参数配置模块对模拟器进行初始化配置，对一款特定微处理器的功能与性能进行模拟；步骤二：判断所分析的部件是否为指令队列、寄存器更新单元、加载存储队列、功能单元的非存储部件；步骤三：模拟器加载测试程序模块中的程序，在程序运行时采用指令分析模块对所分析的部件中执行的指令进行分析，根据指令执行的结果是否对程序的后续执行产生影响，将指令分为ACE指令与un‑ACE指令，通过逻辑判断识别出逻辑屏蔽指令，为了保证指令分类的准确性，直接将逻辑屏蔽指令归为ACE指令；步骤四：采用逻辑校正模块筛选出逻辑屏蔽指令中的un‑ACE位，提高软错误易感性评估的准确性；步骤五：采用软错误易感性分析模块计算所分析部件的体系结构级软错误易感性因子值，通过计算测试程序模块运行过程中所分析部件上ACE位的所占比重，得到微处理器体系结构级软错误易感性因子值，根据微处理器体系结构级软错误易感性因子值，判断所分析部件受到软错误影响的概率；步骤六：结束微处理器体系结构级软错误易感性评估，根据所得到的软错误易感性分析的结果，对微处理器设计师提供参考。