[发明专利]一种基于全卷积神经网络的光场深度信息估计方法在审
申请号: | 201910187566.2 | 申请日: | 2019-03-13 |
公开(公告)号: | CN109949354A | 公开(公告)日: | 2019-06-28 |
发明(设计)人: | 李学华;王亚飞;罗灿 | 申请(专利权)人: | 北京信息科技大学 |
主分类号: | G06T7/50 | 分类号: | G06T7/50;G06T7/13;G06N3/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100192 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种基于全卷积神经网络的光场深度信息估计方法,该方法设计了一种端到端的全卷积神经网络结构的模型,模型的输入为改良后的包含整个场景点信息的光场的EPI结构,还有EPI对应的边缘图作为输入来提高边缘部分的估计精度,模型通过对输入的特征提取输出估计的差异图。对于模型的训练,本发明提出了特定的数据增强方式来提高数据量。本发明提出的方法具有高精度、高效率、低计算代价的特点。 | ||
搜索关键词: | 光场 卷积神经网络 深度信息估计 神经网络结构 数据增强 特征提取 边缘图 差异图 点信息 高效率 数据量 卷积 改良 场景 输出 | ||
【主权项】:
1.一种基于全卷积神经网络的光场深度信息的估计方法,该方法应用于基于微透镜阵列的光场深度信息估计,其特征在于,该方法包括以下过程:a)使用基于微透镜阵列的光场相机采集光场图像数据,并使用改变视角顺序的方式增强数据多样性;b)将增强后的光场图像数据合成为改良的EPI(epipolar plane image)结构,同时,由边缘检测算法得到增强后的光场图像数据的边缘信息,组成边缘图;c)构建基于全卷积神经网络的网络模型,把改良的EPI结构和边缘图作为网络模型的输入,学习两者特征;d)以平均绝对误差作为代价函数训练网络模型,直到模型参数收敛,输出差异图。
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