[发明专利]一种红外光学系统外部杂散光测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 201910191421.X | 申请日： | 2019-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN109813536A | 公开（公告）日： | 2019-05-28 |
| 发明（设计）人： | 高少华;徐熙平;刘智颖;李岩岩;宣雅萍 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G02B17/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 130022 吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种红外光学系统外部杂散光测试装置及测试方法，包括光源、平行光管、转台、滑动导轨、第一支架、第二支架、透镜安装座、显微系统、探测器；在测试中，将红外光学系统外部杂散光测试装置置于暗室中，光源光线依次经过平行光管中的次反射镜和主反射镜反射变为平行光束，调整使平行光管、红外光学系统、显微系统、探测器位于同一光轴上，探测器记录图像数据，分别从不同角度引入外部杂散光，探测器多次记录图像数据。本发明的优点在于原理简单，通用各种中波红外光学系统，可以定性定量地对红外光学系统外部杂散光进行测量，精确评估红外光学系统对外部杂散光的抑制水平。 | ||
| 搜索关键词： | 红外光学系统 杂散光 外部 测试装置 平行光管 探测器 显微系统 测试 支架 记录图像数据 探测器记录 透镜安装座 次反射镜 光源光线 滑动导轨 平行光束 同一光轴 图像数据 主反射镜 转台 暗室 反射 光源 测量 定性 通用 引入 评估 | ||
【主权项】：
1.一种红外光学系统外部杂散光测试装置，其特征在于：包括光源、平行光管、转台、滑动导轨、第一支架、第二支架、透镜安装座、显微系统、探测器，所述光源安装于平行光管下方，所述平行光管包括主反射镜和次反射镜，所述转台与平行光管之间由第一支架连接，所述滑动导轨安装在转台上，所述滑动导轨上安装有透镜安装座和第二支架，所述显微系统安装在第二支架上，所述探测器安装在显微系统像面上，所述光源、转台、滑动导轨、显微系统、探测器之间电连接。
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