[发明专利]表面缺陷侦测系统及其方法有效
| 申请号： | 201910198042.3 | 申请日： | 2019-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN109934814B | 公开（公告）日： | 2022-02-01 |
| 发明（设计）人： | 陈佩君;陈维超;林世嵩 | 申请（专利权）人： | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/764;G06K9/62;G06N3/04 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 徐秋平 |
| 地址： | 201112 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种表面缺陷侦测方法，适用于一物件的一表面，所述的方法包括：以一摄像装置取得该表面的一影像，以一计算装置执行一深度学习算法以从该影像中选取多个定界框及输出关联于这些定界框的多个特征参数，其中每个定界框中包括该表面的一可能缺陷，以及以该计算装置根据该群定界框及该特征参数执行一分类判定算法，以决定该表面是否符合一规格。本发明还公开了一种表面缺陷侦测系统。 | ||
| 搜索关键词： | 表面 缺陷 侦测 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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