[发明专利]一种采用离子束辐照测量核石墨在辐照环境下的尺寸变化行为的方法有效
| 申请号： | 201910198093.6 | 申请日： | 2019-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN109916926B | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 贺周同;周兴泰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 邓琪;余永莉 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种采用离子束辐照测量核石墨在辐照环境下的尺寸变化行为的方法，包括以下步骤：1)利于离子束辐照一定尺寸的核石墨样品，使受辐照的核石墨样品发生形状变化；2)测量该形状变化，利用核石墨样品的性能特征，通过数学方法计算出核石墨样品在辐照环境下的尺寸变化；以及3)通过控制离子束辐照剂量的变化，并重复以上过程，获得所述核石墨样品在辐照环境下的尺寸变化行为曲线。根据本发明提供的方法较在材料测试堆中进行测试的方法具有成本低、周期短的优点，可用于核石墨研发过程中对生产原料及工艺进行优化，也可以作为核石墨质量控制手段，还可以用于在役反应堆石墨堆芯取样样品分析手段，具有较高的经济价值和良好的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 采用 离子束 辐照 测量 石墨 环境 尺寸 变化 行为 方法 | ||
【主权项】：
1.一种采用离子束辐照测量核石墨在辐照环境下的尺寸变化行为的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：1)利于离子束辐照一定尺寸的核石墨样品，使受辐照的核石墨样品发生形状变化；2)测量该形状变化，利用所述核石墨样品的性能特征，通过数学方法计算出所述核石墨样品在辐照环境下的尺寸变化；以及3)通过控制离子束辐照剂量的变化，并重复以上过程，获得所述核石墨样品在辐照环境下的尺寸变化行为曲线。
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