[发明专利]一种测试装置、测试针及测试针的安装结构在审
| 申请号： | 201910198333.2 | 申请日： | 2019-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN109975585A | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 王为;胡义伟 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 祝乐芳;刘芳 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种测试装置、测试针及测试针的安装结构，所述测试装置包括多个测试针和测试夹具，且所述测试夹具上开设多个用于装配所述多个测试针的装配孔，其中，还包括：固定板，且所述固定板上开设多个可供所述测试针的一端穿过且与所述装配孔对应的安装孔，所述固定板用于将多个所述测试针固定在所述测试夹具上，本申请提供的测试装置，提高了测试针在测试夹具上的安装密度，降低了电路板上RFSW器件高密分布时的测试成本，提高了测试针的安装和拆卸效率，从而解决了现有RF测试针在测试夹具上的安装密度小而造成测试成本增加的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试针 测试夹具 测试装置 固定板 安装结构 测试成本 装配孔 电路板 安装孔 拆卸 申请 装配 穿过 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，包括多个测试针和测试夹具，且所述测试夹具上开设多个用于装配所述多个测试针的装配孔，其特征在于，还包括：固定板，且所述固定板上开设多个可供所述测试针的一端穿过且与所述装配孔对应的安装孔，所述固定板用于将多个所述测试针固定在所述测试夹具上。
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