[发明专利]一种检测芯片画胶面积的方法

摘要

本发明公开了一种检测芯片画胶面积的方法。决现有技术中画胶面积不做管控，影响推力测试评估，以及采用网格法，检测速度慢，误差大的问题。利用摄像显微镜采集芯片画胶图像，将图像进行变换和处理，获取装换比例，标记画胶像素个数，最后计算出画胶实际面积，通过画胶实际面积和芯片实际面积的占比来管控画胶多少并对画胶面积进行预警。本发明自动对画胶面积进行管控，提高了胶水稀少模组的检出率，解决了人工检测产品人眼误差的问题。本发明对芯片实现非破坏性检测，并保证了测量精度。本发明快速、准确计算芯片画胶面积。

主权项

1.一种检测芯片画胶面积的方法，采用摄像显微镜和图像处理器，其特征在于：包括以下步骤：S1.摄像显微镜采集包括芯片的第一图像和包括画胶的第二图像；S2.对图像进行预处理，获取包括芯片和画胶轮廓的第三图像；S3.根据第三图像计算装换比例值，根据装换比例得出画胶面积；S4.根据画胶面积与芯片面积的占比，对画胶面积进行预警。