[发明专利]一种COS嵌入式开发盲调方法、系统、设备及存储介质在审
申请号: | 201910198581.7 | 申请日: | 2019-03-15 |
公开(公告)号: | CN109933480A | 公开(公告)日: | 2019-06-25 |
发明(设计)人: | 贺洪恩 | 申请(专利权)人: | 捷德(中国)信息科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/263 | 分类号: | G06F11/263;G06F11/273 |
代理公司: | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人: | 陈琳琳;王宇杨 |
地址: | 330096 江西*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | 本发明公开了一种COS嵌入式开发盲调方法、系统、设备及存储介质,所述方法包括:在OS中分配一块NVM可读写区域;通过中断服务函数读取异常数据并写入NVM可读写区域,所述异常数据为芯片发生硬件异常时产生的数据;或者当代码执行到其自定义的错误收集函数时,所述错误收集函数将执行现场的寄存器数据写入NVM可读写区域;通过APDU指令将NVM可读写区域的异常数据发送出来;对APDU指令发送出来的数据进行分析,获取异常信息。本发明的方法能够利于定位问题,一旦发生非正常的运行状态,可以帮助技术人员快速发现问题,并且找到问题发生的原因及发生的位置,进而可以快速有效地解决问题。 | ||
搜索关键词: | 可读写 异常数据 嵌入式开发 存储介质 写入 读取 发送 中断服务函数 寄存器数据 定位问题 异常信息 运行状态 有效地 自定义 芯片 分配 分析 帮助 发现 | ||
【主权项】:
1.一种COS嵌入式开发盲调方法,所述方法包括:在OS中分配一块NVM可读写区域;通过中断服务函数读取异常数据并写入NVM可读写区域,所述异常数据为芯片发生硬件异常时产生的数据;通过APDU指令将NVM可读写区域的异常数据发送出来;对APDU指令发送出来的数据进行分析,获取异常信息。
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