[发明专利]一种基于测量精度的曲面扫描轨迹生成与优化方法有效
申请号: | 201910198620.3 | 申请日: | 2019-03-15 |
公开(公告)号: | CN110017790B | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 李泷杲;黄翔;林晶;李琦 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B11/25;G06F30/20;B25J9/16;G06F111/04;G06F111/10;G06F111/06 |
代理公司: | 南京天华专利代理有限责任公司 32218 | 代理人: | 瞿网兰 |
地址: | 210016 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种基于测量精度的曲面扫描轨迹生成与优化方法,其特征是首先,建立轨迹优化问题的数学模型,所述的轨迹优化问题数学模型是以激光扫描仪测量误差中系统误差为评估函数,该评估函数在给定机器人末端位姿参数下,能够计算出对应系统误差的数值,并将测量设备约束转化为惩罚函数。在轨迹优化的过程中,分别计算评估函数和惩罚函数,获得满足测量设备约束且测量系统误差最小的扫描轨迹;其次,生成机器人系统曲面扫描初始轨迹,所述的曲面扫描初始轨迹以一系列机器人末端位姿参数表示;第三,根据轨迹优化问题数学模型求解最优扫描轨迹。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 测量 精度 曲面 扫描 轨迹 生成 优化 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于测量精度的曲面扫描轨迹生成与优化方法,其特征是它包括以下步骤:首先,建立轨迹优化问题的数学模型;该轨迹优化问题数学模型是以激光扫描仪测量误差中系统误差为评估函数,该评估函数在给定机器人末端位姿参数下,能够计算出对应系统误差的数值,并将测量设备约束量化为惩罚函数;在轨迹优化的过程中,分别计算评估函数和惩罚函数,获得满足测量设备约束且测量系统误差最小的扫描轨迹;其次,生成机器人系统曲面扫描初始轨迹;最后,根据轨迹优化问题数学模型求解最优扫描轨迹。
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