[发明专利]ATP生物荧光lgCB-lgIB标曲法检测纳米无机材料抗细菌性能的方法

摘要

本发明涉及一种纳米无机抗菌材料抗细菌性能的检测方法，检测步骤包括：样品制备及前处理；设备选型及试剂、培养基配制；菌种保藏、活化及菌悬液制备；OD值‑活菌含量对数值lgC_B标准曲线建立及接种菌液C_B标定；lgC_B‑相对荧光强度对数值lgI_B标准曲线建立；样品接种及培养；回收液I_B测定及其活菌含量C_B和T_B推算；抗菌率R或抗菌活性值A计算；结果评价；其特别之处在于：应用ATP荧光光度计对以R或A表征的纳米无机材料抗细菌性能进行精准定量测试。本发明规定测定振荡培养前后对照样品和抗菌样品回收液I_B，以lgI_B表征和计算R或A并提供结果评价依据。本发明研发的纳米无机材料抗细菌性能检测的ATP生物荧光lgC_B‑lgI_B标曲法，将以科学先进的检测技术支撑产品质量提升。

主权项

1.一种纳米无机抗菌材料抗细菌性能的检测方法，包括：(1)样品制备及前处理；(2)设备选型及试剂、培养基配制；(3)菌种保藏、活化及菌悬液制备；(4)OD值‑活菌含量对数值lgC_B标准曲线建立及接种菌液C_B标定；(5)活菌含量对数值lgC_B‑相对荧光强度对数值lgI_B标准曲线建立；(6)样品接种及振荡培养；(7)回收液相对荧光强度值I_B测定；(8)回收液活菌含量C_B和T_B推算及抗菌率R和抗菌活性值A计算；(9)结果评价；其特征在于，应用ATP荧光光度计对以抗菌率R或抗菌活性值A表征的纳米无机抗菌材料抗细菌性能进行精准定量测试的ATP生物荧光lgC_B‑lgI_B标准曲线法，具体的：在回收液相对荧光强度值I_B测定中：明确对照样品和抗菌样品的粒度、质量及前处理要求，将试验标准菌株进行传代、活化后，取连续转接2次的新鲜细菌培养物制备菌悬液，应用MTT比色分析法进行活菌计数，建立OD值‑活菌含量对数值lgC_B标准曲线，推导得出曲线的线性方程式Y＝a₀X+b₀及相关系数R₀²；并对接种菌液进行活菌含量C_B标定：5.0×10⁵CFU/mL～9.0×10⁵CFU/mL，同时，选择C_B为1.8×10³CFU/mL、1.8×10⁴CFU/mL、1.8×10⁵CFU/mL的稀释液作为标准系列菌悬液；测定其相对荧光强度值I_B，绘制lgC_B‑lgI_B标准曲线，并推导得出曲线的线性方程式Y＝a_BX+b_B及相关系数R_B²，然后，向装有各组对照样品和抗菌样品的锥形瓶中分别滴加5mL接种菌液；在1min内应用ATP荧光光度计对6组0h接触样品回收液的相对荧光强度值I_BC0ij、I_BT0ij进行测定，根据曲线方程式Y＝a_BX+b_B推算其活菌含量C_BOij和T_BOij，同时，将装有6组待培养样品的锥形瓶固定于恒温振荡器上，(37±1)℃以250r/min～300r/min的转速振荡培养至规定时间后；应用ATP荧光光度计测定其回收液的相对荧光强度值I_BCtij、I_BTtij，并推算相应的活菌含量C_Btij和T_Btij；在抗菌率R及抗菌活性值A计算中：根据试验菌种标准曲线lgC_B‑lgI_B的线性方程式Y＝a_BX+b_B，以0h接触及振荡培养后每件对照样品和抗菌样品回收液的相对荧光强度测定值和作为基础数据；在试验有效条件下，计算其经振荡培养后的细菌增长值F_ij、G_ij以及抗菌率R_ij和抗菌活性值A_ij；对每组样品的R_ij和A_ij取算术平均值得到相应的R_i和A_i；每批纳米无机抗菌材料样品的抗菌率R和抗菌活性值A为其3组样品R_i和A_i的算术平均值；并明确相关数据修约和测量不确定度要求；在结果评价中：参考卫生行业通用做法和相关抗菌产品标准要求，确定抗细菌性能分级判定标准；当某组(件)纳米无机抗菌材料样品的抗菌率R_i(R_ij)或抗菌活性值A_i(A_ij)与其他两组(四件)样品的抗细菌性能相比至少相差一个水平级时，重新提取一组(件)样品重复实验；计算其经ATP生物荧光lgC_B─lgI_B标准曲线法测得的抗菌率或抗菌活性值，如果前后两组(件)纳米无机抗菌材料样品抗细菌性能水平相同，则弃之；取另外两组(四件)剩余样品抗菌率R_i(R_ij)或抗菌活性值A_i(A_ij)的算术平均值作为该批次(组)纳米无机抗菌材料样品抗细菌性能的评价结果。