[发明专利]一种一维液晶光栅全参数的测量方法有效
| 申请号： | 201910201254.2 | 申请日： | 2019-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN109827757B | 公开（公告）日： | 2020-01-21 |
| 发明（设计）人： | 胡摇;付诗航;郝群;赵亚如;鹿丽华 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 11639 北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 邬晓楠 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于对一维液晶光栅的全参数进行测量的方法，属于光电测量技术领域。本发明首先构建液晶光栅线性模型，获得夫琅合费衍射的液晶光栅衍射效率公式。接着利用衍射效率测量装置测量两接近波长下的0级，+1级，+2级衍射效率，以及衍射角的大小，之后构建包含液晶光栅参数的方程组并计算液晶光栅全参数的大小。最后，对计算结果进行验证。采用本发明公开的方法，测量步骤简单，不具有破坏性，仅通过光栅衍射效率测量装置对液晶光栅的衍射效率进行测量，便可获得液晶光栅的全参数。能够有效减少测量多个液晶光栅参数的测量环节，减少测量液晶光栅全参数的测量时间，有效减少误差来源，并且最终的测量结果具有可验证性。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶光栅 全参数 测量 衍射效率 有效减少 构建 衍射效率测量装置 方程组 光电测量技术 光栅衍射效率 测量步骤 测量环节 测量液晶 测量装置 误差来源 线性模型 光栅 衍射角 验证性 波长 衍射 验证 | ||
【主权项】：
1.一种一维液晶光栅全参数的测量方法，其特征在于：包括如下步骤：/n步骤1：基于液晶线性光栅模型，构建液晶光栅数学模型，获得夫琅和费衍射的液晶光栅衍射效率公式(1)；/n一维液晶光栅被看作由具有不同液晶分子朝向的区域1和区域2交替形成的；其中，区域1中液晶分子朝向平行于光栅基板方向，区域2中液晶分子的朝向平行于光栅基板且与区域1的液晶分子朝向垂直；n
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