[发明专利]基于SAR成像的RCS高精度测量方法在审

专利信息
申请号: 201910201794.0 申请日: 2019-03-18
公开(公告)号: CN109932719A 公开(公告)日: 2019-06-25
发明(设计)人: 刘峥;董文;谢荣;陈卓群;冉磊;张艳艳 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于SAR成像的RCS高精度测量方法,主要解决现有技术在RCS测量中无法有效降低背景噪声的问题。其实现方案是:1)设置雷达基本参数;2)录取背景回波数据和目标回波数据;3)使用背景回波对目标回波进行背景对消处理;4)对背景对消后的目标回波在极坐标下进行二维成像;5)在极坐标系下对二维成像结果加二维窗提取目标;6)对加二维窗提取后的二维成像结果进行变换得到目标二维谱域数据;7)对定标球重复1)~6)操作得到定标球二维谱域数据;8)对目标和定标球二维谱域数据使用比较法得到目标二维RCS值。本发明显著降低了背景噪声,提高了测量精度,可用于目标二维RCS高精度测量。
搜索关键词: 二维 高精度测量 二维成像 二维谱 域数据 定标 回波 背景对消 背景噪声 回波数据 比较法 测量 基本参数 极坐标系 极坐标 可用 雷达 重复
【主权项】:
1.一种基于SAR成像的RCS高精度测量方法,其特征在于,包括如下:(1)设置步进频率信号的起始频率f0、终止频率f1和扫频点数N,并设置雷达的运动轨迹和运动速度不变;(2)雷达通过运动对不放测试目标的测量背景进行合成孔径雷达SAR成像处理,发射并接收M组步进频率回波数据,得到测量背景的SAR图像原始回波矩阵Q0,Q0是一个N×M维矩阵,N为扫频点数,M为方位采样点数;(3)在测量背景中放置目标,对目标进行SAR成像处理,得到目标SAR图像原始回波矩阵S0,S0是一个N×M维矩阵;(4)对目标SAR图像原始回波数据进行频域背景对消处理,得到背景对消后的目标SAR图像原始回波矩阵S1;(5)在极坐标系下,对背景对消后的目标SAR图像原始回波矩阵S1进行BP二维成像算法处理,得到目标散射率分布函数其中,ρ为极轴,为极角;(6)根据目标散射点大小和分布,对目标散射率分布函数即极坐标系下目标SAR图像进行加窗处理,得到加窗后的目标散射率分布函数其中,窗函数表达式为:a为窗函数半径;(7)对加窗后的目标散射率分布函数进行变换,得到目标在不同频率f和不同观测角度θ下的二维谱域数据E(f,θ);(8)在相同的实验参数和实验条件下,对定标球重复(1)~(8)操作,得到定标球二维谱域数据E0(f,θ);(9)根据不同频率下的定标球RCS理论值σ1(f),使用比较法得到测试目标的RCS测量值:
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