[发明专利]基于双环型纳米狭缝阵列的角动量探测装置和方法有效
申请号: | 201910204215.8 | 申请日: | 2019-03-18 |
公开(公告)号: | CN109916511B | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
发明(设计)人: | 孔艳;邱鹏;王绶玙;刘诚;蒋志龙 | 申请(专利权)人: | 江南大学 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42;G01J1/04 |
代理公司: | 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 | 代理人: | 林娟 |
地址: | 214000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了基于双环型纳米狭缝阵列的角动量探测装置和方法,属于基于表面等离子光学探测技术领域。本发明设计的基于双环型纳米狭缝的自旋及轨道角动量探测装置能够实现对SAM和OAM的同时测量,使用该基于双环型纳米狭缝的自旋及轨道角动量探测装置对SAM、OAM或对SAM和OAM混合进行探测时,准确度均能达到100%。 | ||
搜索关键词: | 基于 双环型 纳米 狭缝 阵列 角动量 探测 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种自旋及轨道角动量探测装置,其特征在于,所述装置为厚度0.15~0.3μm的金属薄片;所述金属薄片上设置多对纳米狭缝,纳米狭缝呈同心双圆环状均匀分布;每对纳米狭缝相互垂直,且满足下式:其中,d为内圈纳米狭缝和基础线之间的距离,所述基础线是与纳米狭缝所在的圆环同圆心,且半径长度不超过狭缝所在圆环的圆心至金属薄片的最短径向长度;θout为纳米狭缝的长边以狭缝几何中心为圆心沿逆时针转过的角度;kSPP和nSPP分别是SPP波的波数和有效折射率;每对几何中心之间的距离w设定为λSPP/2,λSPP是SPP波的波长。
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